现场可编程门阵列(FPGA)中上电电流的检测

检测项：上电电流 检测样品：现场可编程门阵列(FPGA) 标准：SJT11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

中国航天工程咨询中心软件测评实验室

检测项：TSF保护 检测样品：FPGA产品验证（限固化前） 标准：ECSS-Q-ST60-02C-2008空间产品保证-ASIC与FPGA研制 探月工程可编程逻辑器件项目开发实施细则 Q/W1218-2009航天器用FPGA产品研制技术要求

检测项：资源利用 检测样品：FPGA产品验证（限固化前） 标准：ECSS-Q-ST60-02C-2008空间产品保证-ASIC与FPGA研制 探月工程可编程逻辑器件项目开发实施细则 Q/W1218-2009航天器用FPGA产品研制技术要求

检测项：TOE访问 检测样品：FPGA产品验证（限固化前） 标准：ECSS-Q-ST60-02C-2008空间产品保证-ASIC与FPGA研制 探月工程可编程逻辑器件项目开发实施细则 Q/W1218-2009航天器用FPGA产品研制技术要求

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：信号增益、噪声系数 检测样品：FPGA现场可编程器件 标准：微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4006.1

检测项：自动增益控制范围 检测样品：FPGA现场可编程器件 标准：微电路测试方法 MIL-STD-883H:2010 方法4007

检测项：输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品：FPGA现场可编程器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京京航计算通讯研究所飞航软件评测中心

检测项：编码规则检查 检测样品：可编程逻辑器件软件测试 标准：ECSS-Q-ST-60-02C《Space product assurance ASIC and FPGA development》 Q/QJB 179-2010可编程逻辑器件软件工程管理要求

机构所在地：北京市 更多相关信息>>