西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电压 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：精度EA 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：线性误差EL 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：TTL电路、COMS电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第

检测项：输入低电平电流 检测样品：TTL电路、COMS电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第

检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国科学院电工研究所太阳光伏发电系统和风力发电系统质量检测中心

检测项：限流功能试验 检测样品：小型风力发电机组用控制器 标准：离网型风力发电机组用控制器 第一部分：技术条件JB/T6939.1-2004离网型风力发电机组用控制器 第二部分：试验方法JB/T6939.2-2004

检测项：限流功能试验 检测样品：小型风力发电机组用控制器 标准：离网型风力发电机组用控制器 第一部分：技术条件 JB/T6939.1-2004 离网型风力发电机组用控制器 第二部分：试验方法 JB/T6939.2-2004

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：附录 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 - 安全 - 第1部分: 通用要求 IEC 60950-1: 2005 + A1: 2009； EN 60950-1:2006 + A11: 2009 + A1: 2010 + A12: 2011 AS/NZS

检测项：交流电压波动 检测样品：安防器材设备 标准：警报系统.电磁兼容性.产品类标准防火、防入侵者和社交性报警系统元件的抗干扰要求 EN 50130-4: 1995+A1+A2 EN 50130-4: 2011

检测项：交流电压跌落和短时中断 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 AS/NZS CISPR22:2009 AS/NZS CISPR22:2009 + A1 GB9254-2008

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：交流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：电流传输比 检测样品：光电耦合器 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：静态电源电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

南德认证检测（中国）有限公司深圳分公司

检测项：危险的防护 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 IEC 60950:1999 信息技术设备的安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 +A2:2013 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010 +A12:2011+A2

检测项：布线、连接和供电 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 IEC 60950:1999 信息技术设备的安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 +A2:2013 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010 +A12:2011+A2

检测项：CRD5.6电池管理电路设计 检测样品：便携式计算机用蓄电池 标准：便携式计算机用蓄电池标准 IEEE1625:2008 及电池系统符合IEEE1625的证书要求 CRD Revision 1.9（2013-08）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

山东公信安全科技有限公司

检测项：绕组的直流电阻 检测样品：直流电机 标准：《直流电机试验方法》GB/T1311--2008 《电力设备预防性试验规程》 DL/T596-1996 《电气装置安装工程电气设备交接试验标准》 GB50150-2006

检测项：转速测定 检测样品：煤矿用直流电机 标准：《直流电机试验方法》GB/T1311-2008《煤矿电气试验规程》（1983）煤生字第761号

检测项：可变电阻器或起动电阻器的直流电阻 检测样品：直流电机 标准：《直流电机试验方法》GB/T1311--2008 《电力设备预防性试验规程》 DL/T596-1996 《电气装置安装工程电气设备交接试验标准》 GB50150-2006

机构所在地：山东省枣庄市 更多相关信息>>

深圳市鹏能投资控股有限公司试验分公司

检测项：直流电源的影响 检测样品：电力系统用蓄电池直流电源装置 标准：电力系统用蓄电池直流电源装置运行与维护技术规程DL/T 724-2000

检测项：对数字式备自投装置的要求 检测样品：电力系统用蓄电池直流电源装置 标准：电力系统用蓄电池直流电源装置运行与维护技术规程DL/T 724-2000

检测项：低电压继电器 检测样品：电力系统用蓄电池直流电源装置 标准：电力系统用蓄电池直流电源装置运行与维护技术规程DL/T 724-2000

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>