VOL 检测实验_嘉峪检测网

北京振兴计量测试研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

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检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

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检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压比较器标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

天祥公证行有限公司玩具、食品及杂货部

检测项：可溶性铅和镉检测样品：食品接触材料/陶瓷制品标准：美国联邦条例 US Vol. 43, No. 242[4110-03-M] (Dec 1978)

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

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检测项：输出低电平VOL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇

检测项：输出低电平VOL 检测样品：微波组件标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出低电平VOL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇

检测项：输出低电平VOL 检测样品：微波组件标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：低电平输出电压Vol 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

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检测项：艾氏剂检测样品：果汁和浓缩物标准：丙酮萃取法分析果汁中的农药残留 TP08-WI-07.81 (FDA Pesticide Analytical Manual Vol. I, SECTION 302, METHOD I FOR NONFATTY FOODS)

检测项：α-六六六检测样品：果汁和浓缩物标准：丙酮萃取法分析果汁中的农药残留 TP08-WI-07.81 (FDA Pesticide Analytical Manual Vol. I, SECTION 302, METHOD I FOR NONFATTY FOODS)

检测项：β-六六六检测样品：果汁和浓缩物标准：丙酮萃取法分析果汁中的农药残留 TP08-WI-07.81 (FDA Pesticide Analytical Manual Vol. I, SECTION 302, METHOD I FOR NONFATTY FOODS)

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出低电平电压（VOL）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

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