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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:锰、铬、镍、钼、铜、钒 检测样品:钢铁及合金 标准:低合金钢和铸铁的X射线发射光谱测定分析法 ASTM E 322-96(2004)
检测项:硅、锰、磷、硫、铬、镍、钼、钛、铜、钴、铌、钒 检测样品:钢铁及合金 标准:用X射线荧光光谱测定法 分析不锈钢及合金钢的 试验方法 ASTM E 572-02a(2006)E2
检测项:拉伸试验 检测样品:金属材料 标准:金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法 GB/T 228.1-2010
机构所在地:江苏省张家港市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:电感器 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项:X射线检查 检测样品:变压器 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
检测项:X射线检查 检测样品:声表面滤波器 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:低温 检测样品:电工电子产品环境试验 标准:GB/T16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法
检测项:镀层厚度 检测样品:金属镀层 标准:ISO3497:2000 金属覆盖层-镀层厚度的测量-X射线光谱法
检测项:高温 检测样品:电工电子产品环境试验 标准:GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
机构所在地:江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项:热值 检测样品:燃料油和柴油 标准:能量色散X射线荧光分光法测定石油产品中硫的试验方法 ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:燃料油和柴油 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T17040-2008
机构所在地:江苏省南通市 更多相关信息>>
检测项:MgO、CaO SiO2、Al2O3 检测样品:炉渣 标准:炉渣X射线荧光光谱分析方法YB/T4177-2008
检测项:Fe、MgO、CaO、SiO2、Al2O3、P 检测样品:铁矿石 标准:进出口铁矿石中铁、硅、钙、铝、镁和磷的测定波长色散X射线荧光光谱法 SN/T0832-1999
检测项:断后伸长率 、上、下屈服强度、Rp0.2、Rt0.5、抗拉强度 检测样品:金属制品 标准:金属材料拉伸试验第1部分:室温试验方法GB/T 228.1-2010
机构所在地:河北省邯郸市 更多相关信息>>
检测项:X射线照相 检测样品:塑封微电子器件 标准:电子及电气元件试验方法 方法209 GJB 360B-2009
检测项:X射线照相 检测样品:电阻器/电容器 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:医用X射线诊断设备影像质量控制检测 检测样品:放射性医疗设备 标准:医用电子加速器试验和周期检验规程 GB/T 19046-2003
检测项:医用电子加速器性能检测 检测样品:放射性医疗设备 标准:医用电子加速器性能和试验方法 GB 15213-1994
检测项:医用电子加速器性能检测 检测样品:放射性医疗设备 标准:医用电子加速器试验和周期检验规程 GB/T 19046-2003
机构所在地:海南省海口市 更多相关信息>>
检测项:比热容 检测样品:岩石 标准:沉积岩中粘土矿物和常见 非粘土矿物X射线衍射 分析方法 SY/T5163-2010
检测项:粘土矿物相对含量 检测样品:岩石 标准:沉积岩中粘土矿物和常见 非粘土矿物X射线衍射 分析方法 SY/T5163-2010
检测项:全岩定量分析(粘土矿物总量、常见造岩矿物) 检测样品:岩石 标准:沉积岩中粘土矿物和常见非粘土矿物X射线衍射 分析方法 SY/T 5163-2010
机构所在地:辽宁省盘锦市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油及石油产品 标准:石油及石油产品中硫含量的标准试验法 (X-射线荧光光谱法) ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:石油及石油产品 标准:石油及石油产品中硫含量的标准试验法(X-射线荧光光谱法) ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:石油及石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:组份 检测样品:半导体材料 标准:高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 GB/T 24576-2009
检测项:晶格常数 检测样品:半导体材料 标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则; JY/T 009-1996 金属点阵常数的测定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常数测试方法ZKB 0045-2013
检测项:外观 检测样品:LED照明产品 标准:微电子器件试验方法和程序 2009以及2016 GJB548B-2005;金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>