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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:X射线粉末衍射 检测样品: 标准:中国药典2010年版二部附录IX F(X射线粉末衍射法)
检测项:鉴别 检测样品:药品 标准:中国药典2010年版二部附录IX F(X-射线粉末衍射法)
检测项:鉴别 检测样品:药品 标准:中国药典2010年版二部附录ⅤD(高效液相色谱法)/一部附录ⅥD
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:透视荧光屏灵敏度 检测样品:医用诊断X射线机及场所 标准:《医用X射线诊断卫生防护监测规范》GBZ138-2002 4.4、附录C
检测项:X射线源组件泄漏辐射 检测样品:个人外照射 剂量 标准:《医用X射线诊断卫生防护监测规范》 GBZ138-2002 4.8
检测项:X射线源组件泄漏辐射 检测样品:个人外照射 剂量 标准:《医用X射线诊断卫生防护监测规范》 GBZ138-2002 4.1
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:X射线计算机断层摄影机房放射防护检测 检测样品:工作 场所 标准:医用X射线诊断卫生防护 监测规范 GBZ 138-2002
检测项:X、γ射线个人剂量监测 检测样品:消毒 标准:后装γ源近距离治疗 卫生防护标准 GBZ 121-2002
检测项:X、γ射线个人剂量监测 检测样品:消毒 标准:电离辐射防护与辐射源安全 基本标准 GB 18871-2002
检测项:扫描电子显微技术和电子束显微分析 检测样品:集成电路/微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
检测项:内部检查 检测样品:集成电路/微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
检测项:X射线照相 检测样品:电阻器/电容器 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钼、钛、钴 检测样品:铁矿 标准:不锈钢及合金钢分析方法X—射线荧光光谱法 SN/T 2079-2008
检测项:硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钼、钛、钴 检测样品:金属材料及制品 标准:不锈钢及合金钢分析方法X—射线荧光光谱法 SN/T 2079-2008
检测项:铬、硅、铁、铝、镁、钙 检测样品:铬矿 标准:铬矿中铬、硅、铁、铝、镁、钙的测定波长色散X射线荧光光谱法 SN/T 1118-2002
机构所在地:江苏省常熟市 更多相关信息>>
检测项:X射线照相检验 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:X射线照相检验 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
检测项:X射线照相 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:X射线衍射物相分析 检测样品:非金属矿原料 标准:转靶多晶体X射线方法通则 JY/T 009-1996
检测项:石棉 检测样品:矿物原料及制品 标准:《非金属矿中石棉的定性方法 X射线衍射-显微镜观察法 》SN/T 2731-2010
检测项:石棉 检测样品:矿物原料及制品 标准:《用X射线衍射蛇纹石石棉检测方法》 NIOSH 9000:1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:应力测试 检测样品:金属材料 标准:GB/T 10120-1996 《金属应力松弛试验方法》
检测项:碳 检测样品:金属材料 标准:ISO 15630-3-2010 《混凝土的钢筋和预应力用钢 试验方法 第3部分:预应力钢》
检测项:偏斜拉伸 检测样品:预应力钢绞线及拉索 标准:GB/T 10120-1996 《金属应力松弛试验方法》
机构所在地:江苏省江阴市 更多相关信息>>
检测项:射线检测 检测样品:焊接钢管 标准:《射线检验标准指南》ASTM E94-2004
检测项:射线检测 检测样品:焊接钢管 标准:《低压流体输送管道用螺旋缝埋弧焊钢管》SY/T5037-2012
检测项:射线检测 检测样品:焊接钢管 标准:《压力服务用焊接钢管—技术交货条件》EN 10217:2002
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:电子电工产品 标准:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998
检测项:X射线检查 检测样品:发光二极管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法MIL-STD-1580B
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>