广东万德检测技术股份有限公司

检测项：危险的防护 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2005+A1:2009+A2:2013 EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011+A2:2013

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广东白云检测有限公司

检测项：非正常测试 检测样品：家用和类似用途电器 标准：GB 4706.1-2005 家用和类似用途电器的安全 第一部分：通用要求 IEC 60335-1:2004 家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求

检测项：非正常测试 检测样品：真空吸尘器和吸水式清洁器具 标准：GB 4706.7-2004 家用和类似用途电器的安全 真空吸尘器和吸水式清洁器具的特殊要求 IEC 60335-2-2: 2002 家用和类似用途电器的安全 真空吸尘器和吸水式清洁器具的特殊要求

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

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深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：射频测试/应用于25MHz至3GHz频率范围的无线麦克风 标准：电磁兼容和无线电频谱事务(ERM); 应用于25MHz至3GHz频率范围的无线麦克风; 第一部分:技术参数和测试方法 EN 300 422-1V1.4.2 (2011-08) 第二部分: 欧盟统一基本要求涵盖欧洲无线电/电信终端设备指令第3.2 章节 ET

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