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X射线计算机体层摄影设备产品描述:通常由扫描架、X射线发生装置、探测器、图像处理系统和患者支撑装置组成。 X射线计算机体层摄影设备预期用途:用于对从多方向穿过患者的X射线信号进行计算机处理,为诊断提供重建影像,或为放射治疗计划提供图像数据。 X射线计算机体层摄影设备品名举例:X射线计算机体层摄影设备、头部X射线计算机体层摄影设备、移动式X射线计算机体层摄影设备、车载X...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月07日
检测项:控制端电压 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992
检测项:输出漏电流 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:四纹豆象 检测样品:植物及植物产品 标准:四纹豆象检疫鉴定方法 SN/T 2377-2009
检测项:双钩异翅长蠹 检测样品:植物及植物产品 标准:双钩异翅长蠹检疫鉴定方法 SN/T 1821-2006
检测项:松材线虫 检测样品:植物及植物产品 标准:松材线虫检疫鉴定方法 SN/T 1132-2002
机构所在地:广西壮族自治区贵港市
检测项:并网控制试验 检测样品:双馈变流器 标准:半导体变流器 基本要求的规定 GB/T 3859.1-1993
检测项:绝缘耐压试验 检测样品:双馈变流器 标准:半导体变流器 基本要求的规定 GB/T 3859.1-1993
机构所在地:广东省深圳市
检测项:跨导 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 方法3407
检测项:通态漏极电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 方法3407
检测项:漏-源通态电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 方法3407
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:标志 检测样品:灯具 标准:灯具一般安全与试验 IEC 60598-1:2003 EN 60598-1:2004
检测项:防触电保护 检测样品:灯具 标准:灯具一般安全与试验 IEC 60598-1:2003 EN 60598-1:2004
机构所在地:广东省广州市