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脆性断裂是指构件未经明显的变形而发生的断裂。断裂时材料几乎没有发生过塑性变形。如杆件脆断时没有明显的伸长或弯曲,更无缩颈,容器破裂时没有直径的增大及壁厚的减薄。脆断的构件常形成碎片。材料的脆性是引起构件脆断的重要原因。 构件未经明显的变形而发生的断裂。断裂时材料几乎没有发生过塑性变形。如杆件脆断时没有明显的伸长或弯曲,更无缩颈,容器破裂时没有...查看详情>>
脆性断裂是指构件未经明显的变形而发生的断裂。断裂时材料几乎没有发生过塑性变形。如杆件脆断时没有明显的伸长或弯曲,更无缩颈,容器破裂时没有直径的增大及壁厚的减薄。脆断的构件常形成碎片。材料的脆性是引起构件脆断的重要原因。
构件未经明显的变形而发生的断裂。断裂时材料几乎没有发生过塑性变形。如杆件脆断时没有明显的伸长或弯曲,更无缩颈,容器破裂时没有直径的增大及壁厚的减薄。脆断的构件常形成碎片。材料的脆性是引起构件脆断的重要原因。
脆性断裂的种类
单晶体:解理断裂,裂纹沿解理面扩展 ;
多晶体:沿晶断裂,裂纹走向沿着晶面,而并不在某一平面内运动 ;
穿晶 ( 晶内 ) 断裂,裂纹沿着多晶粒的解理穿过,而不管晶界的位置如何。
收起百科↑ 最近更新:2017年08月10日
机构所在地:上海市
检测项:温度 检测样品:机电设备 标准:《舰船电子设备环境试验 低温贮存试验》 GJB4.4-1983
检测项:温度 检测样品:机电设备 标准:《舰船电子设备环境试验 低温贮存试验》 GJB4.4-1983
检测项:温度 检测样品:机电设备 标准:《舰船电子设备环境试验 低温试验》 GJB4.3-1983
机构所在地:上海市
检测项:最低运行温度 检测样品:继电器及继电保护装置 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1 –2008 IEC 60068-2-1:2007
检测项:最低储存温度 检测样品:继电器及继电保护装置 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1 –2008 IEC 60068-2-1:2007
检测项:最高运行温度 检测样品:继电器及继电保护装置 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 GB/T 2423.2 –2008 IEC 60068-2-2:2007
机构所在地:江苏省南京市