中航工业哈尔滨轴承有限公司实验室

检测项：寿命及可靠性试验 检测样品：商品滚动体 标准：滚动轴承寿命与可靠性试验评定 GB/T24607-2009

检测项：寿命及可靠性试验 检测样品：商品滚动体 标准：滚动轴承零件 调心滚子轴承套圈圆度公差 CSBTS TC98.34-1997

检测项：寿命及可靠性试验 检测样品：商品滚动体 标准：滚动轴承零件 圆柱子轴承套圈滚道圆度公差 CSBTS TC98.36-1997

机构所在地：黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>

宁波裕江特种胶带有限公司实验室

检测项：疲劳寿命 检测样品：汽车同步带 标准：汽车同步带疲劳寿命试验方法 GB/T 18183-2000

检测项：疲劳寿命 检测样品：汽车V带 标准：带传动 汽车工业用V带 疲劳试验 GB/T 11545-2008

检测项：疲劳寿命 检测样品：汽车同步带 标准：汽车同步带物理性能试验方法 GB/T 10716-2012

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

浙江五洲新春集团股份有限公司检测中心

检测项：寿命试验 检测样品：深沟球轴承 标准：滚动轴承 额定动负荷和额定寿命 GB/T 6391-2010

检测项：部分项目 检测样品：深沟球轴承 标准：滚动轴承 寿命与可靠性试验及评定GB/T 24607-2009

检测项：部分项目 检测样品：水泵轴连轴承 标准：滚动轴承 水泵轴连轴承JB/T8563-2010

机构所在地： 更多相关信息>>

内蒙古盾安光伏科技有限公司检测中心

检测项：少子寿命 检测样品： 标准：GB/T 1553-2009硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

机构所在地：内蒙古自治区巴彦淖尔市 更多相关信息>>

陕西天宏硅材料有限责任公司检测中心

检测项：少子寿命 检测样品：硅多晶/硅单晶 标准：GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法

机构所在地：陕西省咸阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出低电平VOL 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：低电平输入电流IIL 检测样品：微波组件 标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：输出低电平时电源电流ICCL 检测样品：微波组件 标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入低电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输入低电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出低电平电压（VOL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流（IIL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：高温寿命试验 检测样品：电子及电气元件 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出低电平电压 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出低电平时电源电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>