元件失效测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：附着力测试检测样品：电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析标准：IPC/JEDEC J-STD-035非密封压缩电子元件的声学显微镜方法

检测项：超声波扫描检测样品：电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析标准：IPC/JEDEC J-STD-035非密封压缩电子元件的声学显微镜方法

检测项：潮湿绝缘电阻检测样品：电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析标准：IPC-TM-650-2.6.14.1电化学迁移阻抗测试

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台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：微观切片检测样品：电子电气产品失效分析标准：电子及电气元件试验方法方法208:可焊性测试 GJB 360B-2009

检测项：封装产品内部超声波检测检测样品：电子电气产品失效分析标准：非气密封装电子元件声学显微检测 IPC/JEDEC J-STD-035-1999

检测项：可焊性试验检测样品：电子电气产品失效分析标准：环境测试-第2-69部分试验.试验Te润湿称量法SMD可焊性试验 IEC 60068-2-69-2007

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：电参数测试检测样品：半导体分立器件失效分析标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

检测项：非功能测试检测样品：半导体分立器件失效分析标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

检测项：多头探针测试检测样品：半导体分立器件失效分析标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

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上海精密计量测试研究所

检测项：负载调整率Loadre 检测样品：电子及电气元件标准：GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法

检测项：温度冲击试验检测样品：电子及电气元件标准：GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法

检测项：负载调整率Loadre 检测样品：电子及电气元件标准：GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：透射比检测样品：光学元件标准：激光光学元件测试方法 GJB 1487-1992

检测项：连续功率检测样品：光学元件标准：激光参数测试方法 ISO 11146-1999

检测项：脉冲宽度检测样品：光学元件标准：激光参数测试方法 ISO 11146-1999

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中检集团南方电子产品测试（深圳）有限公司

检测项：可靠性检测样品：电工电子产品标准：设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986

检测项：可靠性检测样品：电工电子产品标准：设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986

检测项：全项目检测样品：高压元件和组件标准：高压元件和组件的安全要求 SJ 3273-1990

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亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：机械操作检测样品：电子设备用机电元件及类似元件标准：电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.5-1997 IEC 512-5:1992

检测项：两个或三个引出端之间电测试检测样品：集成电路/微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：两个或三个引出端之间电测试检测样品：集成电路/微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

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上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：*部分项目检测样品：LED显示器标准：LED显示屏通用规范 SJ/T 11141-2003 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986 发光二极管(LED)显示屏测试方法 SJ/T 11281-2007

检测项：*部分项目检测样品：软盘驱动器标准：软磁盘驱动器通用技术条件 GB/T 12627-1990 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986

检测项：*部分项目检测样品：鼠标标准：信息技术鼠标器通用规范 SJ/T 11270-2002 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986

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中国电子科技集团公司第二十三研究所检验中心

检测项：*绝缘电阻测试检测样品：电子及电气元件标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法302绝缘电阻测试

检测项：*直流电阻测试检测样品：电子及电气元件标准：电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009/方法303直流电阻测试

检测项：*电阻-温度特性测试检测样品：铁路机车车辆电缆标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法304电阻-温度特性测试

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梅州线艺科技有限公司线艺测试服务中心

检测项：热冲击检测样品：电子元件标准：电子元件及器件的测试方法热冲击 MIL-STD-202G Method 107G-1984

检测项：端子强度 (引脚) 检测样品：电子元件标准：电子元件及器件的测试方法端子强度 MIL-STD-202G Method 211A-1969

检测项：溶剂抵抗检测样品：电子元件标准：电子元件及器件的测试方法溶剂抵抗 MIL-STD-202G Method 215K-2002

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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

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上海精密计量测试研究所

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