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收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数,收缩量则为收缩前后尺寸之差。 收缩率 测试仪器:薄膜热收缩率试验仪 查看详情>>
收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数,收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器:薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新:2017年04月24日
检测项:疲劳寿命 检测样品:前轴总成 标准:QC/T 513-1999 汽车前轴台架疲劳寿命试验方法 QC/T 483-1999 汽车前轴疲劳寿命限值
检测项:断面收缩率 检测样品:紧固件 标准:GB/T 3098.5-2000 紧固件机械性能 自攻螺钉
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:疲劳寿命 检测样品:转向节 标准:《汽车试验技术手册-汽车转向节台架疲劳寿命试验》
检测项:疲劳寿命 检测样品:扭杆 标准:18N5130-2006 《转向节技术规范》
检测项:疲劳寿命 检测样品:扭杆 标准:18N5140-2006 《前悬架扭杆技术条件》
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:垂直弯曲疲劳寿命试验 检测样品:前轴 标准:汽车前轴台架疲劳寿命试验方法 QC/T 513—1999 汽车前轴疲劳寿命限值 QC/T 483—1999
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:维持状态时电源电流ICCS 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
检测项:维持状态时电源电流ICCS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:高温寿命试验 检测样品:半导体分立器件 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:集电极-发射极维持电压VCEO 检测样品:DC/DC变换器 标准:SJ 20646-1997《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》
检测项:集电极-发射极维持电压Vceo 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章
检测项:高温 检测样品:电工电子产品、 军用船用电气设备 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法108 高温寿命试验
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:自动维持运行状态 检测样品:通信用油机、市电转换屏 标准:YD/T 585-2010通信用配电设备
检测项:自动维持运行状态 检测样品:通信用磷酸铁锂电池组 第1部分:集成式电池组 标准:YD/T 2344.1-2011通信用磷酸铁锂电池组 第1部分:集成式电池组
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:维持电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:断态电压临界上升率 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:换向电压临界上升率 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:维持时间试验 检测样品:微小型计算机系统设备用开关电源 标准:微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T 14714—2008
检测项:可靠性及寿命 检测样品:台式喷墨打印机 标准:台式喷墨打印机通用规范 GB/T 17974—2000
检测项:可靠性及寿命 检测样品:台式激光打印机 标准:台式激光打印机通用规范 GB/T 17540—1998
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:维持时间 检测样品:信息设备用不间断电源 标准:《信息设备用不间断电源通用技术条件》 GB/T14715-1993
检测项:维持时间 检测样品:开关电源 标准:微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008
检测项:包装空隙率 检测样品:食品和化妆品过度包装检验 标准:《食品和化妆品包装计量检验规则》 JJF1244-2010
检测项:维持电流 检测样品:光耦合器 标准:半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982
检测项:电压调整率 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项:电流调整率 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>