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羟值(Hydroxylvalue) 1g样品中的羟基所相当的氢氧化钾(KOH)的毫克数，以mg KOH／g表示。 羟值 测试仪器：针入度电脑式、针入度数显式 查看详情>>
羟值(Hydroxylvalue)
1g样品中的羟基所相当的氢氧化钾(KOH)的毫克数，以mg KOH／g表示。
羟值测试仪器：针入度电脑式、针入度数显式
收起百科↑ 最近更新：2017年03月21日
检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：场效应管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003
检测项：正向阈值电压下的输入电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：晶体管 标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997
检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997
检测项：静态电源电流ID 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994
检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994
机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项：正向电流传输比 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分： 双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条
检测项：电流传输比 检测样品：电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分 总规范 GB/T2693－2001 第4.5、4.6、4.7、4.8、4.9条
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：电流传输比 检测样品：继电器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.10-1982
检测项：正向栅源漏 电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项：发射极-基极截止电流Iebo 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：电流传输比hF (ctr) 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管
检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管
检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：电流传输比 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997
检测项：V/F静态电源电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项：F/V静态电源电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项：电流传输比（CTR） 检测样品：电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001
检测项：静态电源电流(IQ) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：静态电流 （IQ） 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
