成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：共模抑制比 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：共模抑制比 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：电流传输比 检测样品：电容器 标准：半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 SJ2215.10-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

四川省电子产品监督检验所/中国赛宝（四川）实验室/四川省软件和信息系统工程测评中心

检测项：浪涌（冲击）（共模/差模） 检测样品：TDMA通信系统移动台及辅助设备 标准：900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法 第一部分：移动台及其辅助设备 YD 1032-2000

检测项：浪涌（冲击）（共模/差模） 检测样品：固定无线链路设备及其辅助设备 标准：固定无线链路设备及其辅助设备的电磁兼容性要求和测量方法 YD/T1138-2006

检测项：浪涌（冲击）（共模/差模） 检测样品：不间断电源设备(UPS） 标准：不间断电源设备（UPS） 第2部分：电磁兼容性（EMC）要求 GB 7260.2-2009 IEC 62040-2-2005

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上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：低频共模传导骚扰抗扰度 检测样品：*家用和类似用途电动电热器具，电动工具以及类似电器（电磁兼容） 标准：电磁兼容 试验和测量技术0Hz～150kHz共模传导骚扰抗扰度试验 GB/T 17626.16-2007 IEC 61000-4-16：2002+A2：2009 EN 61000-4-16:1998 + A1:2004 + A2:2011

检测项：*全部项目 检测样品：家用和类似用途电动电热器具，电动工具以及类似电器的电磁兼容 标准：电磁兼容 试验和测量技术0Hz～150kHz共模传导骚扰抗扰度试验 GB/T 17626.16-2007 IEC 61000-4-16：2002+A2：2009 EN 61000-4-16:1998 + A1:2004 + A2:2011

检测项：金属薄板塑性应变比（r值） 检测样品：材料物理性能 标准：金属薄板塑性应变比(r值)试验方法 GB/T 5027-2007

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

山东省计量科学研究院

检测项：衰减串音比 检测样品：多模光纤 标准：《综合布线系统工程验收规范》 GB 50312-2007

检测项：衰减串音比功率和 检测样品：多模光纤 标准：《综合布线系统工程验收规范》 GB 50312-2007

检测项：回波损耗 检测样品：多模光纤 标准：《综合布线系统工程验收规范》 GB 50312-2007

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：共模抑制比 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

苏州市计量测试研究所

检测项：电信端口的传导共模骚扰限值 检测样品：信息技术设备（EMC） 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 信息技术设备抗扰度限值和测量方法 CISPR 24:2010

检测项：电信端口的传导共模骚扰限值 检测样品：信息技术设备（EMC） 标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB 9254-2008 信息技术设备 无线电干扰性能 限值和测试方法 CISPR 22:2008信息技术设备抗扰度限值和测量方法

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

珠海出入境检验检疫局检验检疫技术中心

检测项：电信端口的传导共模骚扰 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010

机构所在地：广东省珠海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：共模输入电压Vicm 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：共摸抑制比KCMR 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：射频共模 检测样品：电子、电气设备 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的发射标准 GB 17799.3-2001 IEC 61000-6-3：1996

检测项：共模抑制比 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：射频共模 检测样品：电子、电气设备 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB/T 17799.1-1999 IEC 61000-6-1：1997 电磁兼容 通

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：纹波抑制比 检测样品：DC/DC电源装置 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997

检测项：电源电压抑制比KSVR 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>