内减阻涂层检测实验

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。镀层厚度检测方法镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>

厚度

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镀层/涂层厚度简介
厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。

镀层厚度检测方法
镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。
镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等;
镀层厚度破坏检测方法包括溶解法、液流法、点滴法、库仑法、金相显微镜法、轮廓仪法、干涉显微镜法等。
这些测量方法都有各自的特点和局限性，很准相互取代。但磁性法应用最广

镀层厚度相关标准
GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
GB/T 4893.5-2013 家具表面漆膜理化性能试验第5部分：厚度测定法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法
GB/T 11374-2012 热喷涂涂层厚度的无损测量方法
GB/T 28122-2011 液晶显示器（LCD）用聚乙烯醇（PVA）膜厚度测定方法
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 25451-2010 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 25276-2010 液晶显示器（LCD）用三醋酸纤维素酯（TAC）膜厚度测定方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 24328.2-2009 卫生纸及其制品第2部分：厚度、层积厚度和表观密度的测定
GB/T 13761.1-2009 土工合成材料规定压力下厚度的测定第1部分：单层产品厚度的测定方法
GB/T 24218.2-2009 纺织品非织造布试验方法第2部分：厚度的测定
GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法
GB/T 3690-2009 织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法
GB/T 13960.4-2009 可移式电动工具的安全第二部分：平刨和厚度刨的专用要求
GB/T 23285-2009 缩微摄影技术开窗卡增厚区厚度的测量方法
GB/T 22889-2008 皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定
GB/T 22638.1-2008 铝箔试验方法第1部分：厚度的测定重量法
GB/T 2951.11-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第11部分：通用试验方法厚度和外形尺寸测量机械性能试验
GB/T 13452.2-2008 色漆和清漆漆膜厚度的测定
GB/T 328.4-2007 建筑防水卷材试验方法第4部分：沥青防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 328.5-2007 建筑防水卷材试验方法第5部分：高分子防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
GB/T 16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 20018-2005 金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量 β射线背散射法
GB/T 11378-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法
GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定
GB/T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则
GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 17598-1998 土工布多层产品中单层厚度的测定
GB/T 3820-1997 纺织品和纺织制品厚度的测定
GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法电阻法
GB/T 13744-1992 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量

检测项目

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收起百科↑ 最近更新：2017年06月29日

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中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：热阻检测样品：发光二极管芯片标准：LED 测量 CIE 127:2007

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吉林省医疗器械检验所

检测项：尺寸检测样品：医用胶带标准：YY/T 0148-2006《医用胶带通用要求》

检测项：阻水性检测样品：橡胶避孕套标准：GB 7544-2009《天然胶乳橡胶避孕套技术要求与试验方法》

检测项：皮内反应试验检测样品：医用输液输血注射器具标准：GB/T 14233.1-2008《医用输液输血注射器具检验方法第1部分：化学分析方法》

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

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江苏省无锡药品检验所

检测项：有关物质检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录ⅤH (分子排阻色谱法)

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山东省食品药品检验所

检测项：鉴别检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)

检测项：含量测定(效价测定) 检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)

检测项：含量测定(效价测定) 检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)

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海南省药品检验所

检测项：鉴别检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH/三部附录ⅢD分子排阻色谱法

检测项：检查检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH/三部附录ⅢD分子排阻色谱法

检测项：有关物质检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH/三部附录ⅢD分子排阻色谱法

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检测项：鉴别检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)

检测项：有关物质检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)

检测项：不溶物检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)

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贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

检测项：直流阻性负载检测样品：继电器、接触器标准：飞机电磁继电器接触器技术条件HB5523-1980

检测项：直流阻性负载检测样品：继电器、接触器（含可靠性指标）标准：含可靠性指标的电磁继电器总规范GJB1461-1992 电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 军用设备环境实验方法湿热试验GJB150.9-1986

检测项：交流阻性负载检测样品：继电器、接触器（含可靠性指标）标准：含可靠性指标的电磁继电器总规范GJB1461-1992 电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 军用设备环境实验方法湿热试验GJB150.9-1986

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内蒙古自治区食品药品检验所

检测项：有关物质/检查检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录ⅤH（分子排阻色谱法）

检测项：有关物质/检查检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录ⅤH（分子排阻色谱法）

检测项：含量测定(效价测定) 检测样品：药品标准：中国药典2010年版二部附录ⅤH（分子排阻色谱法）

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惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：反向电流(IR) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：正向电流(IF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：结温 (Tj) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

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