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收起百科↑ 最近更新:2017年06月06日
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成接口电路线电路 标准:SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:30min 工频交流电压试验和击穿电压试验 检测样品:矿物绝缘电缆 标准:GB/T 13033.1-2007 额定电压 750V 及以下矿物绝缘电缆及终端 第 1 部分:电缆
机构所在地:广东省广州市
机构所在地:北京市
检测项:辐射骚扰 检测样品:信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准:ANSI C63.4:2009 美国国家标准:低电压电子电气设备无线电噪声的测试方法,频率范围:9kHz~40GHz
检测项:辐射骚扰 检测样品:信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准:ANSI C63.4:2009 美国国家标准:低电压电子电气设备无线电噪声的测试方法,频率范围:9kHz~40GHz
检测项:辐射骚扰 检测样品:信息技术设备、通信设备(EMC) 标准:ANSI C63.4:2009 美国国家标准:低电压电子电气设备无线电噪声的测试方法,频率范围:9kHz~40GHz
机构所在地:广东省深圳市
检测项:传导骚扰 检测样品:通讯产品、IT产品、电信设备 (电磁兼容性) 标准:ANSI C63.4:2009 美国国家标准:低电压电子电气设备无线电噪声的测试方法,频率范围:9kHz~40GHz
检测项:辐射骚扰 检测样品:通讯产品、IT产品、电信设备 (电磁兼容性) 标准:ANSI C63.4:2009 美国国家标准:低电压电子电气设备无线电噪声的测试方法,频率范围:9kHz~40GHz
检测项:传导骚扰 检测样品:通讯产品、IT产品、电信设备 (电磁兼容性) 标准:ANSI C63.4:2009 美国国家标准:低电压电子电气设备无线电噪声的测试方法,频率范围:9kHz~40GHz
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:广东省深圳市