深圳市华检电磁技术有限公司

检测项：电击与能量危险的防护(2.1) 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备.安全.第1部分：一般要求 GB4943.1:2011 IEC60950-1:2012 EN60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011 UL/CUL 60950-1:2007 AS/NZS 60950.1：20

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市航嘉驰源电气股份有限公司检测中心

检测项：能量危险试验 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备.安全.第1部分：一般要求GB 4943.1-2011 EN 60950-1:2006+A11+A1+A12； IEC 60950-1:2005 (2nd Edition); Am 1:2009； UL 60950-1, 2nd Editio

检测项：危险带电零部件的确定 检测样品：音频、视频及类似电子设备 标准：音频、视频及类似电子设备.安全要求 GB 8898-2011 EN 60065/A11:2008+A12:2011； IEC 60065:2001(seventh edition)+A1:2005+A2:2010； UL 60065, 7th Editio

检测项：部分项目 检测样品：音视频及类似电子设备 标准：音频、视频及类似电子设备：安全要求 GB 8898-2011 EN 60065/A11:2008； IEC 60065:2001(seventh edition)+A1:2005+A2:2010； UL 60065, 7th Edition, 2007-1

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

天祥公证行有限公司-消费及商用电子电气

检测项：部分项目 检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法 EN 55013: 2001+A1+A2

检测项：部分项目 检测样品：影音产品 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚扰特性限值和测量方法 CISPR13：2001+A1 CISPR13：2006（EN 55013：2001+A1）

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：IEC 60950: 1995 +A1,A2,A3,A4 IEC 60950: 1999 IEC 60950: 2001 IEC 60950-1：2005 + A1:2009信息技术设备的安全

机构所在地： 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

深圳市理邦精密仪器股份有限公司测试中心

检测项：部分项目 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气设备 第1部分：安全通用要求 GB9706.1-2007 IEC60601-1: 1988+A1:1991+A2:1995 UL60601-1-2003 CSA-C22.2No.601-1: 1990 EN60601-1: 1990+A1:1993

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>