青岛海尔空调电子有限公司检测中心

检测项：电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术 设备 标准：信息技术设备安全-第1部分：一般要求 IEC 60950-1:2005 + A1:2009 AS/NZS 60950.1:2011 EN 60950-1:2006 + A11:2009 + A1:2010 + A12:2011

检测项：部分项目 检测样品：信息技术 设备 标准：信息技术设备安全-第1部分：一般要求 IEC 60950-1:2005 + A1:2009 EN 60950-1:2006 + A11:2009 + A1:2010 + A12:2011 AS/NZS 60950.1:2011

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2011

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：IEC 60950-1:2005+A1:2009

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 AS/NZS 60950.1-2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

程智电子科技（昆山）有限公司

检测项：2.10 电气间隙，爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备（单相） 标准：信息技术设备-安全-第1部分：一般要求 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1: 2012 Ed. 2.1 IEC 60950-1: 2013 Ed. 2.2 EN 60950-1: 2006 EN 60950-1: 2006+A1:2010

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

快特电波科技(苏州)有限公司检测中心

检测项：发射机载波输出电平 检测样品：无线通讯设备 标准：电磁兼容性和无线频谱(ERM):短距离设备(SRD)工作在9kHz到25kHZ频率范围内的无线设备和工作在9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统;第1部分:技术特性和测试方法 ETSI EN 300 330-1 V1.7.1 (2010-

检测项：发射机载波输出电平 检测样品：无线通讯设备 标准：电磁兼容性和无线频谱(ERM):短距离设备(SRD)工作在9kHz到25kHZ频率范围内的无线设备和工作在9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统;第1部分:技术特性和测试方法 ETSI EN 300 330-1 V1.7.1 (2010-

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

威胜集团有限公司测试中心

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电力用户用电信息采集系统 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 电能信息采集与管理系统 第3-1部分：电能信息采集终端技术规范—通用要求 DL/T 698.31-2010 ③ 电力用户用电信息采集系统

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能电能

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

云南电力试验研究院（集团）有限公司电力研究院

检测项：直流参考电压 检测样品：金属氧化物避雷器 标准：电气装置安装工程电气设备交接试验标准GB 50150-2006 电力设备预防性试验规程 DL/T 596-1996 (企标)电力设备预防性试验规程Q/CSG 114002-2011 高电压试验技术 第一部分:一般定义及试验要求 GB/T 16927.1-

检测项：交流参考电压 检测样品：金属氧化物避雷器 标准：电气装置安装工程电气设备交接试验标准GB 50150-2006 电力设备预防性试验规程 DL/T 596-1996 (企标)电力设备预防性试验规程Q/CSG 114002-2011 高电压试验技术 第一部分:一般定义及试验要求 GB/T 16927.1-

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

信华科技（深圳）有限公司

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003 U

检测项：2.10电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 UL60950-1:2003 UL60950-1:2007 AS/NZS 60950.1:2003 CAN/CSA-C22.2 No.60950-1:2003 CAN/CS

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奥测世纪（北京）技术股份有限公司

检测项：爬电距离、电气间隙和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 EN60950-1：2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市北测检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011 IEC 60950-1:2005+A1: 2009

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