司法部司法鉴定科学技术研究所

检测项：纸张鉴定 检测样品：微量物证 标准：纸张和纸板尺寸、偏斜度的测定GB/T 451.1-2002 纸和纸板厚度的测定 GB/T 451.3-2002 纸和纸板 粗糙度的测定（空气泄漏法）本特生法和印刷表面法GB/T 22363-2008 纸和纸板透气度的测定 GB/T 458-2008 纸、纸

检测项：墨水鉴定 检测样品：微量物证 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第8部分：显微分光光度法 GB/T 19267.8-2008 微量物证的理化检验术语 GA/T 242-2000 激光喇曼光谱分析方法通则JY/T 002-1996 文件材料鉴定规范 SF/Z JD0201008-2010 （墨

检测项：油墨鉴定 检测样品：微量物证 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第8部分：显微分光光度法 GB/T 19267.8-2008 微量物证的理化检验术语 GA/T 242-2000 激光喇曼光谱分析方法通则JY/T 002-1996 文件材料鉴定规范 SF/Z JD0201008-2010 （油

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深圳华通威国际检验有限公司

检测项：射频性能 检测样品：微功率(短距离)无线电发射设备 标准：ETSI EN 302 054-1 V1.1.1（2003-03） - 电磁兼容性和无线电频谱（ERM）;气象辅助（气象艾滋病）;在400,15MHz无线电探空仪使用406MHz频率范围内的功率电平高达200毫瓦第1部分：技术特性和测试方法

检测项：射频性能 检测样品：微功率(短距离)无线电发射设备 标准：ETSI EN 302 054-2 V1.1.1（2003-03） - 电磁兼容性和无线电频谱（ERM）;气象辅助（气象艾滋病）;在400.15兆赫无线电探空仪使用406MHz频率范围内的功率电平高达200毫瓦第2部分：根据R＆TTE指令第3.2条的基本要

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

青岛海尔电子有限公司计测中心

检测项：电性能部分项目 检测样品：彩色电视广播接收机 标准：数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006 数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视等离子显示器通用规范 SJ/T 11339-2006

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深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：发射载波输出电平 检测样品：SRD短距离发射设备 标准：电磁兼容性和无线电频谱物质.短程装置(SRD).频率范围:9KHZ～25MHZ和频率范围的无线电设备和频率范围:9HZ～30MHZ的感应县全系统.第2部分:根据R&TTE指令3.2条款协调的欧洲标准 ETSI EN 300 330-2 V1.5.1 （20

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程智电子科技（昆山）有限公司

检测项：2.10 电气间隙，爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备（单相） 标准：信息技术设备-安全-第1部分：一般要求 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1: 2012 Ed. 2.1 IEC 60950-1: 2013 Ed. 2.2 EN 60950-1: 2006 EN 60950-1: 2006+A1:2010

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香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：有用接收机输入电平范围 检测样品：GSM 移动台 标准：不测振动条件下的射频参数 不测以下测试項： 12.2.1，12.2.2， 14.1.2.1, 14.1.2.2, 14.4.3, 14.6.2, 16.1, 18.1, 21.1, 21.2, 21.3.1, 21.3.2, 21.4.1, 22.1,

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威胜集团有限公司测试中心

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电力用户用电信息采集系统 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 电能信息采集与管理系统 第3-1部分：电能信息采集终端技术规范—通用要求 DL/T 698.31-2010 ③ 电力用户用电信息采集系统

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能电能

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

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奥测世纪（北京）技术股份有限公司

检测项：爬电距离、电气间隙和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 EN60950-1：2006

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深圳市北测检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011 IEC 60950-1:2005+A1: 2009

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