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检测项：结构缺陷的声学扫描显微镜检查 检测样品：微电子器件 标准：非气密封装电子元件用声波显微镜检查方法 IPC/JEDEC J-STD-035-1999 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD 1580B-2010
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
