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检测项:静区反射电平 检测样品:微波暗室 标准:天线测试方法 天线测试场的鉴定 SJ2534.4-1985
检测项:场幅均匀性 检测样品:开阔试验场 标准:天线测试方法 IEEE149-2008
机构所在地:北京市
检测项:阻抗特性 检测样品:天线 标准:GJB 4274-2001 对数周期天线通用规范
检测项:方向图、波瓣宽度 检测样品:天线 标准:GJB 4274-2001 对数周期天线通用规范
检测项:增益 检测样品:天线 标准:GJB 4274-2001 对数周期天线通用规范
机构所在地:北京市
检测项:CE106:10kHz-40GHz天线端子传导发射 检测样品:军用设备和分系统 标准:GJB152A-1997《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》
机构所在地:江苏省南京市
检测项:功能 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000;
机构所在地:湖北省孝感市
机构所在地:陕西省西安市
检测项:RE103 10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射 检测样品:机载设备 标准:RTCA/DO-160E.20(2004)机载设备环境条件和试验方法—射频敏感度
机构所在地:陕西省西安市