中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输入失调电流IOS 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：输入失调电流IOS 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：失调电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：失调电压Vos 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：失调电流Ios 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出电流IO 检测样品：DC/DC转换器 标准：SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：极限短路电流（基准部分）IOS 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》

检测项：输出电流IO 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出截至态电流IO(OFF) 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出电流IO 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：直流电流功能准确度 检测样品：数字多用表校准仪 标准：数字多用表校准仪通用技术条件BG/T15637-1995

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：电子和电气产品、信息设备及军用设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验GB/T17626.5-2008 / IEC-61000-4-5：2005

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：模拟开关/多路器系列集成电路 标准：GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>