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机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:机械防盗锁 标准:机械防盗锁 GA/T 73-1994
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检测项:低电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:电源电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:功能测试 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:释放电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:吸合时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:释放时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:集电极-基极击穿电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:高电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:漏极截止电流IDSS 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
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检测项:密码支持 检测样品:信息安全(等级保护、风险评估、脆弱性) 标准:GB/T 18336.1-2008信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第1部分:简介和一般模型 GB/T 18336.2-2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分:安全功能要求
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检测项:安全审计 检测样品:信息化软件 标准:GB/T18336.1-2008 信息技术安全技术信息技术安全性评估准则第1部+A39分:简介和一般模型GB/T18336.2-2008 信息技术安全技术信息技术安全性评估准则第2部分:安全功能要求
检测项:秘密性 检测样品:信息化软件 标准:GB/T18336.1-2008 信息技术安全技术信息技术安全性评估准则第1部+A39分:简介和一般模型GB/T18336.2-2008 信息技术安全技术信息技术安全性评估准则第2部分:安全功能要求