中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：对密码锁定状态下的标签的EPC数据写入的功能检测 检测样品：射频识别打印机 标准：1. EPCglobal标准：EPCglobal标签数据标准，第1.5版 2. ISO/IEC 18000-6 :2010 信息技术—用于物品管理的射频识别技术 第6部分：在860 MHz ～ 960 MHz通信的空中接口的参数 3. EPCglobal标

检测项：对密码锁定状态下的标签的访问口令和灭活口令数据写入的功能检测 检测样品：射频识别打印机 标准：1. EPCglobal标准：EPCglobal标签数据标准，第1.5版 2. ISO/IEC 18000-6 :2010 信息技术—用于物品管理的射频识别技术 第6部分：在860 MHz ～ 960 MHz通信的空中接口的参数 3. EPCglobal标

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北京信息安全测评中心

检测项：部分项目 检测样品：信息安全产品 标准：GB/T 18336.1 -2008《信息技术 安全技术 信息技术 安全性评估准则 第1部分：简介和一般模型》 GB/T 18336.2 -2008《信息技术 安全技术 信息技术 安全性评估准则 第2部分：安全功能要求》

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艾特赛克（北京）信息技术有限公司

检测项：FCS类： 密码支持 检测样品：信息技术软件的安全性 标准：信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第1部分：简介和一般模型 GB/T18336.1—2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分：安全功能要求GB/T18336.2-2008/ ISO/IEC 15408:2008

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输入失调电压 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：电源电流 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

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北京尊冠科技有限公司

检测项：维持电流（IH） 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：断态电流(ID) 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：门极触发电压Vgt 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：通态直流电压Vt 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：开路断态电流Ido 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入偏置电流(IB) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：（运算放大器）短路输出电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：（运算放大器）短路输出电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

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莱茵技术监护（深圳）有限公司

检测项：运算验证 检测样品：锂电池 标准：关于电池系统符合IEEE1725的认证要求Revision 2.2

检测项：运算验证 检测样品：锂电池 标准：联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》 ST/SG/AC.10/11/Rev.5 38.3试验IEEE 1625-2008 IEEE关于笔记本电脑用可充电电池的标准IEEE 1725-2011 IEEE关于移动电话用可充电电池的标准关于电池系统

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输入高电平电流 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

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