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收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。 收缩率 测试仪器：薄膜热收缩率试验仪 查看详情>>
收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日
检测项：集电极-发射极维持电压VCEO 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》
检测项：集电极-发射极维持电压Vceo 检测样品：光电耦合器 标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章
检测项：高温 检测样品：电工电子产品、 军用船用电气设备 标准：GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法108 高温寿命试验
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：自动维持运行状态 检测样品：通信用油机、市电转换屏 标准：YD/T 585-2010通信用配电设备
检测项：自动维持运行状态 检测样品：通信用磷酸铁锂电池组 第1部分：集成式电池组 标准：YD/T 2344.1-2011通信用磷酸铁锂电池组 第1部分：集成式电池组
机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项：维持电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项：断态电压临界上升率 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项：换向电压临界上升率 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：维持时间试验 检测样品：微小型计算机系统设备用开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T 14714—2008
检测项：可靠性及寿命 检测样品：台式喷墨打印机 标准：台式喷墨打印机通用规范 GB/T 17974—2000
检测项：可靠性及寿命 检测样品：台式激光打印机 标准：台式激光打印机通用规范 GB/T 17540—1998
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：维持时间 检测样品：信息设备用不间断电源 标准：《信息设备用不间断电源通用技术条件》 GB/T14715-1993
检测项：维持时间 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008
检测项：包装空隙率 检测样品：食品和化妆品过度包装检验 标准：《食品和化妆品包装计量检验规则》 JJF1244-2010
检测项：维持电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982
检测项：电压调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项：电流调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：维持电流（IH） 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项：维持时间 检测样品：对绞电缆 标准：YD/T 1019-2001《数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆》
检测项：1026 稳态工作寿命 检测样品：半导体器件 标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》
检测项：部分参数 检测样品：大型蒸汽灭菌器 标准：大型蒸汽灭菌器 自动控制型 GB 8599-2008
检测项：部分参数 检测样品：小型蒸汽灭菌器 标准：小型蒸汽灭菌器 自动控制型 YY 0646-2008
检测项：温度寿命 检测样品：电子及电气零组件 标准：电连接器及插座的温度寿命试验程序(有或无电气负荷) EIA-364-17C-2011
机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项：使用寿命 检测样品： 标准：
检测项：全部参数 检测样品：前 轴 标准：QC/T 513-1999(2009) 汽车前轴台架疲劳寿命试验方法
检测项：全部参数 检测样品：驱动桥 标准：QC/T 483-1999(2009) 汽车前轴疲劳寿命限值
机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>
