陕西天宏硅材料有限责任公司检测中心

检测项：少子寿命 检测样品：硅多晶/硅单晶 标准：GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法

机构所在地：陕西省咸阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：集电极—发射极维持电压 检测样品：场效应管 标准：《半导体器件 分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：电压调整率 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：电流调整率 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：维持时间 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008

检测项：维持时间 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008

检测项：循环寿命 检测样品：蜂窝电话用锂离子电池 标准：蜂窝电话用锂离子电池总规范GB/T18287-2000

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：维持电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：维持电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器 测试方法 SJ 2215.1～2215.14 -1982中的 SJ2215.2-82、 SJ2215.4-82 、SJ2215.5-82 、SJ2215.7-82、 SJ2215.8-82、 SJ2215.9-82 、SJ2215.10-8

检测项：电压调整率 检测样品：电阻 标准：电子设备用固定电阻器总规范 GB/T5729-2003 第4.5条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：维持时间 检测样品：计算机用开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用技术条件 GB/T 14714-2008

检测项：基本误差 检测样品：压力传感器 标准：电阻应变式压力传感器 JB/T 5493-1991

检测项：可靠性及寿命 检测样品：信息处理用键盘 标准：信息处理用键盘通用技术条件 GB/T 14081-2010

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

深圳中航技术检测所

检测项：瞬变维持时间 检测样品：固定电阻器 标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分：总规范

检测项：温度平均变化率 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范

检测项：空气比释动能率 检测样品：X射线衍射仪和荧光分析仪 标准：GBZ 115-2002 X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：维持电流 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：粒子碰撞噪声检测试验 检测样品：电子元器件 标准：微电路试验方法和程序 GJB 548B—2005

检测项：电压调整率 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

厦门建霖工业有限公司实验室

检测项：安装位置维持 检测样品：软管 标准：弹性水连接装置 ASME A112.18.6-2009/CSA B125.6-09

检测项：安装位置维持 检测样品：软管 标准：弹性水连接装置 ASME A112.18.6-2009/CSA B125.6-09

检测项：软管寿命 检测样品：软管 标准：弹性水连接装置 ASME A112.18.6-2009/CSA B125.6-09

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：集电极—发射极维持电压 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：集电极—发射极维持电压 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：电压调整率 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：维持电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：高温寿命试验 检测样品：非电解电容器 标准：GJB360A-1996电子及电气元件测试方法

检测项：高温寿命试验 检测样品：电感 标准：GJB360A-1996电子及电气元件测试方法

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>