北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：静电放电抗扰度试验 检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备 标准：系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序 GB/T 7826-1987

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京雷电防护装置测试中心

检测项：暂时过电压下失效的安全性试验 检测样品：通信局（站）低压配电系统用电涌保护器 标准：通信局（站）低压配电系统用电涌保护器测试方法YD/T1235.2－2002

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市燃气设备检测有限公司

检测项：烤箱温控器失效时的安全性 检测样品：炊用燃气大锅灶 标准：家用燃气灶具.第1-1部分:安全性.总则 EN 30-1-1：2008

检测项：烤箱温控器失效时的安全性 检测样品：家用燃气灶具 标准：家用燃气灶具.第1-1部分:安全性.总则 EN 30-1-1：2008

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

青岛海尔空调电子有限公司检测中心

检测项：机械以及电气失效的防护 检测样品：电气设备 标准：认可和试验规范-电气设备的一般要求 AS/NZS 3100:2009 + A1:2010

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

国网河南省电力公司电力科学研究院

检测项：失效保护 检测样品：计算机信息系统 标准：《信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第1部分：简介和一般模型》 GB/T 18336.1-2008 《信息技术 安全技术 信息技术安全性评

检测项：失效保护 检测样品：计算机信息系统 标准：《信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第1部分：简介和一般模型》 GB/T 18336.1-2008 《信息技术 安全技术 信息技术安全性评

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：损耗角正切 检测样品：电阻器 标准：（4）有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011

检测项：电容量 检测样品：电容器 标准：（2）电子设备用固定电容器 第8部分 分规范：1类瓷介固定电容器 GB/T 5966-1996 （3）电子设备用固定电容器 第4部分：分规范 固体和非固体电解质铝电容器 GB/T 5993-2003 （4）有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中金金融认证中心有限公司

检测项：失效保护（FPT_FLS） 检测样品：移动终端应用软件 标准：《中国银联移动支付技术规范 第1卷：基础规范 第2部分 移动终端支付应用软件安全规范》Q/CUP 037.1.2—2011

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：细检漏 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

检测项：细检漏 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

检测项：平均发送光功率 检测样品：光收发模块 标准：155Mb/s和622Mb/s光收发合一模块技术条件 YD/T 986-1998 千兆比以太网用光收发合一模块技术要求和测试方法 YD/T 1352-2005 SDH光发送/光接收模块技术要求——2.488320 Gbs光发送模块 YD/T 1111.2

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：阈值试验 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：外壳绝缘 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：两个或三个引出端之间电测试 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>