平均寿命、光通维持率和颜色维持特性检测实验

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪查看详情>>

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration)

定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。

收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪

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收缩率

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：直流维持电流Ih 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

检测项：光学和传输特性检测样品：单模光纤标准：ITU-T G.653 色散位移单模光纤光缆的特性(12/2006)

检测项：光学和传输特性检测样品：单模光纤标准：ITU-T G.655 非零色散单模光纤光缆特性(11/2009)

检测项：光学和传输特性检测样品：单模光纤标准：ITU-T G.652 单模光纤光缆的特性(11/2009)

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：集电极—发射极维持电压检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：电压调整率检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：电流调整率检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

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山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：维持时间检测样品：开关电源标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008

检测项：维持时间检测样品：开关电源标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008

检测项：抖晃率检测样品：磁带录音机标准：磁带录音机基本参数和技术要求GB/T2019-1987 普及型小型录音机总技术条件SJ/T3258-89

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：维持电流检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：维持电流检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14 -1982中的 SJ2215.2-82、 SJ2215.4-82 、SJ2215.5-82 、SJ2215.7-82、 SJ2215.8-82、 SJ2215.9-82 、SJ2215.10-8

检测项：CS116 10kHz~100MHz 电缆束和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度检测样品：军用设备和分系统标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-97 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-97 电磁干扰发射和敏感度控制要求 MIL-STD-461D 电磁干扰特性测量 MIL-STD-462D 分系统和设备电磁干扰特性控制要求 M

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湖北省计量测试技术研究院

检测项：维持时间检测样品：计算机用开关电源标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用技术条件 GB/T 14714-2008

检测项：光通量测量检测样品：灯和灯具标准：光通量测量 CIE 84-1989

检测项：光谱辐射度测试检测样品：灯和灯具标准：使用积分球的灯的总光通量测试方法 IESNA LM-78-2007

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深圳中航技术检测所

检测项：瞬变维持时间检测样品：固定电阻器标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第一部分：总规范

检测项：温度平均变化率检测样品：耐压测试仪标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范

检测项：空气比释动能率检测样品：X射线衍射仪和荧光分析仪标准：GBZ 115-2002 X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准

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厦门建霖工业有限公司实验室

检测项：安装位置维持检测样品：软管标准：弹性水连接装置 ASME A112.18.6-2009/CSA B125.6-09

检测项：安装位置维持检测样品：软管标准：弹性水连接装置 ASME A112.18.6-2009/CSA B125.6-09

检测项：色漆涂层干膜厚度检测样品：标准：应用于黑色金属的无磁涂层和应用于有色金属的无磁和不导电涂层的干膜厚度的无损测量的标准实施规程 ASTM D7091-05

机构所在地：福建省厦门市更多相关信息>>

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：集电极—发射极维持电压检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：集电极—发射极维持电压检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：电压调整率检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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上海市塑料研究所检测中心

检测项：氙灯老化检测样品：塑料标准：ISO 4582:2007 塑料.暴露于透过玻璃的日光下、自然风化或实验室光源下颜色改变和特性变化的测定

检测项：氙灯老化检测样品：塑料标准：ISO 4582:2007 塑料.暴露于透过玻璃的日光下、自然风化或实验室光源下颜色改变和特性变化的测定

检测项：颜色检测样品：塑料标准：GB/T 11186.2-1989 涂膜颜色的测量方法第二部分

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