您当前的位置:首页 > 平板探测器系统影像均匀性
X射线探测器产品描述:X射线探测器(包括平板探测器或光电耦合器(CCD)探测器等)采用特定的光电转换介质将穿过人体的X射线信号转化为数字信号。影像系统一般包括图像传输,处理和显示系统。 X射线探测器预期用途:装配于或配合诊断X射线机,用于将X射线信号转化为数字信号。 X射线探测器品名举例:X射线平板探测器、X射线CCD探测器、X射线动态平板探测器 X射线...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月09日
检测项:阻抗均匀性 检测样品:射频连接器 标准:YD/T 640-93 通信用射频连接器技术要求和检验方法 YD/T 1966-2009移动通信用50Ω射频同轴跳线
检测项:可靠性试验 检测样品:光通信用高速光探测器--前置放大器组件 标准:YD/T 1353-2005 光通信用高速光探测器——前置放大器组件技术要求及测试方法
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:均匀性 检测样品:LED 显示屏 标准:发光二极管(LED)显示屏测试方法 SJ/T 11281-2007 LED显示屏通用规范SJ/T 11141-2003
检测项:可焊性 检测样品:闭路监视电视系统 标准:民用闭路监视电视系统工程技术规范 GB 50198-2011
检测项:照度均匀度 检测样品:灯具 标准:灯具 第1部分: 一般要求与试验 GB 7000.1-2007
机构所在地:湖南省长沙市
检测项:温度均匀性 检测样品:箱式电阻炉 标准:间接电阻炉 第7部分:SX系列实验用箱式炉JB/T 8195.7-2007 电热设备的试验方法第4部分:间接电阻炉GB/T 10066.4-2004
检测项:温度均匀性 检测样品:箱式电阻炉 标准:间接电阻炉 第7部分:SX系列实验用箱式炉JB/T 8195.7-2007 电热设备的试验方法第4部分:间接电阻炉GB/T 10066.4-2004
检测项:温度均匀度 检测样品:箱式电阻炉 标准:间接电阻炉 第7部分:SX系列实验用箱式炉JB/T 8195.7-2007 电热设备的试验方法第4部分:间接电阻炉GB/T 10066.4-2004
机构所在地:江苏省昆山市
检测项:色彩角的均匀性 检测样品:能效要求/紧凑型荧光灯(CFLs) 标准:IES LM-58-94 光谱测量导则
检测项:全部项目 检测样品:能效要求/计算机 标准:GB 24850-2010 平板电视能效限定值及能效等级
机构所在地:广东省深圳市