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检测项:开通期间的各时间间隔(td(on)、tr、ton)和开通能量Eon 检测样品:绝缘栅双极晶体管(IGBT) 标准:GB/T29332-2012/IEC60747-9Ed.2.0:20076.3.11 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测机构:国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项:开启时间ton 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1998
检测项:开启时间ton 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项:关断时间toff 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市
检测项:发射开关时间模版 检测样品:TETRA直放站 标准:数字集群移动通信系统体制 SJ/T 11228-2000
机构所在地:北京市
机构所在地:河南省洛阳市
机构所在地:山东省济南市
机构所在地:陕西省西安市