生化分析仪用质控物中首次开封后稳定性的检测

检测项：首次开封后稳定性 检测样品：生化分析仪用质控物 标准：生化分析仪用质控物 YY∕T 1662-2019 4.5.1

检测机构：医疗器械检测研究院 更多相关信息>>

生化分析仪用质控物中首次开封后稳定性的检测

检测项：首次开封后稳定性 检测样品：生化分析仪用质控物 标准：生化分析仪用质控物 YY∕T 1662-2019 4.5.1

检测机构：医药医疗器械检测中心 更多相关信息>>

半导体集成电路中管壳开封的检测

检测项：管壳开封 检测样品：半导体集成电路 标准：半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-98 5.1.5

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

单项检测中化学开封-常规塑封器件的检测

检测项：化学开封-常规塑封器件 检测样品：单项检测 标准：

检测机构：苏州华碧微科检测技术有限公司 更多相关信息>>

开封市水大流量计量科技有限公司

检测项：密封试验 检测样品： 标准：

检测项：外观 检测样品： 标准：

检测项：重复性 检测样品：电磁流量计 标准：《电磁流量计》JB/T 9248-1999

机构所在地：河南省开封市 更多相关信息>>

深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：开封 检测样品：橡胶及有关制品 标准：硫化橡胶或热塑性橡胶 低温脆性的测定 ISO 812:2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：管壳开封 检测样品：半导体分立器件失效分析 标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

检测项：管壳开封 检测样品：半导体分立器件失效分析 标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

检测项：开封 检测样品：电子元器件及设备 物理性能试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波组件通用规范 5、SJ 20527

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：开封 检测样品：谐振器 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：开封 检测样品：电感器 标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

检测项：开封 检测样品：声表面滤波器 标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：开封 检测样品：电子电气产品失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5009:破坏性物理分析 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省吴江市 更多相关信息>>