中兴通讯股份有限公司手机联合测试实验室

检测项：几何失真 检测样品：移动通信终端 标准：YD/T 1607-2007 数字移动终端图像及视频传输特性技术要求和测试方法

检测项：发送失真 检测样品：移动通信终端 标准：YD/T 1538-2011 数字移动终端音频性能技术要求和测试方法 3GPP TS 26.132 V11.2.0 (2013-03) 语音和视频电话终端声学测试规范 3GPP TS 26.131 V11.2.0 (2013-03) 电话终端声学特性：要求

检测项：接收失真 检测样品：移动通信终端 标准：YD/T 1538-2011 数字移动终端音频性能技术要求和测试方法 3GPP TS 26.132 V11.2.0 (2013-03) 语音和视频电话终端声学测试规范 3GPP TS 26.131 V11.2.0 (2013-03) 电话终端声学特性：要求

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

司法部司法鉴定科学技术研究所

检测项：墨水鉴定 检测样品：微量物证 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第8部分：显微分光光度法 GB/T 19267.8-2008 微量物证的理化检验术语 GA/T 242-2000 激光喇曼光谱分析方法通则JY/T 002-1996 文件材料鉴定规范 SF/Z JD0201008-2010 （墨

检测项：油墨鉴定 检测样品：微量物证 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第8部分：显微分光光度法 GB/T 19267.8-2008 微量物证的理化检验术语 GA/T 242-2000 激光喇曼光谱分析方法通则JY/T 002-1996 文件材料鉴定规范 SF/Z JD0201008-2010 （油

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

四川省电子产品监督检验所/中国赛宝（四川）实验室/四川省软件和信息系统工程测评中心

检测项：增益 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993

检测项：额定(失真限制的)输出电压或功率的持续时间 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993

检测项：多通道放大器中通道间的增益差和相位差 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：增益 检测样品：天线 标准：QJ1729A-1996《航天天线测试方法》 CB1338－1998 《舰船通信天线技术要求》 GB/T 9410-2008 《移动通信天线通用技术规范》 CB1189－2008 《船用超短波通信天线电性能基本技术要求和测量方法》

检测项：失真度 检测样品：可靠性试验设备 标准：GB5170.17－2005《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温／低气压湿热综合顺序试验设备》 GB5170.18－2005 《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度／湿度组和循环试验设备》 GB5170.19-2

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

山东省计算中心

检测项：传声增益 检测样品：软件产品 标准：软件工程 软件产品质量要求与评价（SQuaRE) 商业现货（COTS)软件产品的质量要求和测试细则 GB/T 25000.51-2010

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京神州腾耀通信技术有限公司

检测项：天线性能测试 检测样品：通信设备（移动台电磁辐射测试SAR） 标准：移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008

检测项：比吸收率测试（SAR） 检测样品：通信设备（移动台电磁辐射测试SAR） 标准：天线测试方法 IEEE Std149-2003

机构所在地：北京市 更多相关信息>>