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裂隙灯显微镜产品描述:通常由裂隙照明系统(裂隙灯)和双目显微镜(或光学数码成像系统)组成。通过一个裂隙照射于眼睛形成一个光学切面,通过双目显微镜可观察被检部位的细节。 裂隙灯显微镜预期用途:用于观察角膜、虹膜、晶状体等。 裂隙灯显微镜品名举例:手持式裂隙灯显微镜、裂隙灯显微镜、眼科裂隙灯显微镜检查仪、手持裂隙灯显微镜检查仪、手持式裂隙灯、电动对焦数码裂隙灯显微镜系统 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:微观形貌观察 检测样品:金属和金属制品 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:能谱定性分析 检测样品:金属和金属制品 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996 微束分析 能谱法定量分析 GB/T 17359-2012
检测项:金属和氧化层厚度 检测样品:金属和金属制品 标准:金属和氧化物覆盖层厚度测量 显微镜法 GB/T 6462-2005
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:微观形貌 检测样品:半导体材料 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:外观 检测样品:LED照明产品 标准:微电子器件试验方法和程序 2009以及2016 GJB548B-2005;金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
检测项:总光通量 检测样品:发光二极管芯片 标准:微电子器件试验方法和程序2009以及2016; GJ/B548B-2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:表面形貌 检测样品: 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:组织结构分析 检测样品: 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:镀层涂层厚度分析 检测样品: 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:微观形貌观察 检测样品:材料 标准:分析型扫描电子 显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:微纳米尺寸测量 检测样品:材料 标准:分析型扫描电子 显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:微观形貌观察 检测样品:材料 标准:透射电子显微镜 方法通则 JY/T 011-1996
检测项:显微图像及能谱分析 检测样品:氧化铝 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则JY/T010-1996
检测项:元素含量分析 检测样品:无机非金属材料 标准:《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》 GB/T 17359-2012
检测项:放大检查 检测样品:珠宝玉石 标准:珠宝玉石 名称 GB/ T16552-2010
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:比表面积 检测样品:塑料 标准:《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996
检测项:热分析 检测样品:塑料 标准:《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996
检测项:微区形貌 分析 检测样品:材料微区 分析 标准:《透射电子显微镜方法通则》JY/T 011-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:镀层厚度 检测样品:金属材料 标准:通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法 ASTM B748-90(2010)
检测项:密度 检测样品:钢铁及合金 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
检测项:镀层厚度 检测样品:金属材料 标准:金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法 GB/T 6462-2005
检测项:微观结构及组分 检测样品:岩石 标准:SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
检测项:扫描电镜测镀层厚度 检测样品: 标准:金属履盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 JB/T 7503-94
检测项:镀层厚度 检测样品: 标准:金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法 GB/T 6462-2005 ISO 1463-2003
检测项:结构、形貌分析 检测样品:岩石 标准:岩石样品扫描电子显微镜分析方法 SY/T 5162-1997(2005)
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>