扫描电子显微镜（SEM）检查检测实验

光学相干断层扫描仪

简介

光学相干断层扫描仪产品描述：通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理，获取组织断层面的信息。光学相干断层扫描仪预期用途：用于获取组织断层面的信息。光学相干断层扫描仪品名举例：眼科光学相干断层扫描仪光学相干断层扫描仪管理类别：Ⅱ 光学相干断层扫描仪相关指导原则： 1、眼科光学相干断层扫描仪注册...查看详情>>

光学相干断层扫描仪

简介

光学相干断层扫描仪产品描述：通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理，获取组织断层面的信息。

光学相干断层扫描仪预期用途：
用于获取组织断层面的信息。
光学相干断层扫描仪品名举例：眼科光学相干断层扫描仪

光学相干断层扫描仪管理类别：Ⅱ

光学相干断层扫描仪相关指导原则：
1、眼科光学相干断层扫描仪注册技术审查指导原则

光学相干断层扫描仪相关标准：
1、YY/T 0849-2011 眼科高频超声诊断仪
2、YY/T 0107-2015 眼科A型超声测量仪
3、YY/T 1484-2016 眼科仪器眼轴长测量仪

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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国家环境分析测试中心

检测项：石棉尘检测样品：空气和废气标准：环境空气-无机纤维性颗粒物质计数浓度的测定-扫描电子显微镜法 ISO 14966-2002

检测项：石棉检测样品：保暖和摩擦材料标准：环境空气-无机纤维性颗粒物质计数浓度的测定-扫描电子显微镜法 ISO 14966:2002

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丹佛斯（天津）有限公司全球服务（中国）技术中心

检测项：微观形貌观察检测样品：金属和金属制品标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：能谱定性分析检测样品：金属和金属制品标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996 微束分析能谱法定量分析 GB/T 17359-2012

检测项：微米级长度测量检测样品：金属和金属制品标准：微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008

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中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：微观形貌检测样品：半导体材料标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

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北京市理化分析测试中心

检测项：表面形貌检测样品：标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：组织结构分析检测样品：标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：镀层涂层厚度分析检测样品：标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

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连云港市质量技术综合检验检测中心

检测项：显微图像及能谱分析检测样品：氧化铝标准：分析型扫描电子显微镜方法通则JY/T010-1996

检测项：元素含量分析检测样品：无机非金属材料标准：《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》 GB/T 17359-2012

检测项：放大检查检测样品：珠宝玉石标准：珠宝玉石名称 GB/ T16552－2010

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上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司

检测项：比表面积检测样品：塑料标准：《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996

检测项：热分析检测样品：塑料标准：《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996

检测项：微区形貌分析检测样品：材料微区分析标准：《透射电子显微镜方法通则》JY/T 011-1996

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上海华测先越材料技术有限公司

检测项：镀层厚度检测样品：金属材料标准：通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法 ASTM B748-90(2010)

检测项：密度检测样品：钢铁及合金标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：镀层厚度检测样品：金属材料标准：微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008

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中海油能源发展股份有限公司工程技术分公司中海油实验中心渤海实验中心

检测项：微观结构及组分检测样品：岩石标准：SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法

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上海华测品标检测技术有限公司

检测项：表面形貌检测样品：标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：扫描电镜测镀层厚度检测样品：标准：金属履盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 JB/T 7503-94

检测项：微米级长度测量检测样品：标准：微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008

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中国石油集团杭州地质研究所实验中心

检测项：结构、形貌分析检测样品：岩石标准：岩石样品扫描电子显微镜分析方法 SY/T 5162-1997（2005）

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