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检测项:电功率老化 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-97中方法1038、1039
检测项:低温试验 检测样品:航空电子产品 标准:军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-86
机构所在地:陕西省西安市
检测项:低温 检测样品:电工电子产品 标准:军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-1986
检测项:高温 检测样品:电工电子产品 标准:军用设备环境试验方法 高温试验GJB 150.3-1986
机构所在地:天津市