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检测项:阈值电压VT 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:阈值电流IT 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:阈值电压 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项:阈值电流 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项:阈值电压 检测样品:场效应管IGBT 标准:半导体分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:阈值(门限电平) 检测样品:逻辑分析仪 标准:GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》
检测项:噪声系数 检测样品:EMI测试接收机 标准:GB 11462-89 《频谱分析仪测试 方法》
检测项:中心频率误差 检测样品:EMI测试接收机 标准:GB 11462-89 《频谱分析仪测试 方法》
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平阈值电压VOHT 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平阈值电压VOLT 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:正向阈值电压下的输入电流IT+ 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:臭 检测样品:水(含大气降水)和废水 标准:臭阈值法《水和废水监测分析方法》(第四版增补版)国家环保总局(2002)
机构所在地:黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>
检测项:臭和味 检测样品:水和废水 标准:文字描述法、臭阈值法 《水和废水监测分析方法》(第四版、增补版P89)
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:栅源阈值电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
检测项:阈值电流 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:嗅 检测样品:水 (污水除外) 标准:美国公共健康协会、美国水工作协会《水和废水标准检验法》(2012),22版,2150B:嗅阈值法
检测项:味 检测样品:水 (污水除外) 标准:美国公共健康协会、美国水工作协会《水和废水标准检验法》(2012),22版,2160B:味阈值法
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入负向阈值电压VIT- 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:阈值电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:阈值电流 检测样品:DC/DC电源变换器 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:D/A失调误差 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006