中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：阈值电流Ith 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：阈值电流Ith 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：栅-源阈值电压VGS(to） 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：具有固定监视器阈值的开关不均衡性 检测样品：超声探伤仪 标准：无损检测 超声检测设备的性能与验证 第1部分：仪器 EN12668-1:2000

检测项：ESD阈值 检测样品：粗波分复用光收发合一模块 标准：粗波分复用光收发合一模块技术要求和测试方法 YD/T 1351-2005

检测项：连续波激光器阈值 检测样品：固体激光器 标准：固体激光器总规范 GB/T 15490-1995 固体激光器主要参数测试方法 GB/T 15175-1994

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：栅-源阈值电压VGS（th） 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：栅源阈值电压 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：栅源阈值电压 检测样品：二极管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4023-1997 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：输入阈值电压和滞后电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国移动通信有限公司研究院实验室

检测项：SIM卡被攻击的处理（小于阈值次数） 检测样品：软交换服务器 标准：《2GHz TD-SCDMA/WCDMA数字蜂窝移动通信网移动软交换服务器之间的Nc接口测试方法（第二阶段）》 YD/T 1510-2007

检测项：SIM卡被攻击的处理（大于等于阈值次数） 检测样品：软交换服务器 标准：《2GHz TD-SCDMA/WCDMA数字蜂窝移动通信网移动软交换服务器之间的Nc接口测试方法（第二阶段）》 YD/T 1510-2007

检测项：SIM卡被攻击的处理（小于阈值次数） 检测样品：卡 标准：《2GHz TD-SCDMA/WCDMA数字蜂窝移动通信网移动软交换服务器之间的Nc接口测试方法（第二阶段）》 YD/T 1510-2007

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市水务（集团）有限公司水质监测站

检测项：余氯(游离氯和总氯) 检测样品：污水参数 标准：水和废水监测分析方法 (第四版-国家环保总局2002) 第三篇第一章 三（二）臭阈值法（B）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：阈值试验 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：阈值试验 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：扫描电子显微技术和电子束显微分析 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：栅源阈值电压VGS(th) 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体器件 第8部分：场效应晶体管

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：阈值电压 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法 3404

检测项：阈值电压 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法 3404

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>