深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：接收LBT阈值 检测样品：工作在25MHz至1000MHz的SRD无线传输设备 标准：电磁兼容性及无线频谱事物（ERM）；短距离传输设备；工作在25MHz至1000MHz之间并且功率在500mW以下的射频设备；第1部分：技术特性及测试方法 ETSI EN 300 220-1 V2.1.1 (2006-04) ETSI EN 300 220-

检测项：LBT时序参数 检测样品：工作在25MHz至1000MHz的SRD无线传输设备 标准：电磁兼容性及无线频谱事物（ERM）；短距离传输设备；工作在25MHz至1000MHz之间并且功率在500mW以下的射频设备；第1部分：技术特性及测试方法 ETSI EN 300 220-1 V2.1.1 (2006-04) ETSI EN 300 220-

检测项：LBT最低收听时间 检测样品：工作在25MHz至1000MHz的SRD无线传输设备 标准：电磁兼容性及无线频谱事物（ERM）；短距离传输设备；工作在25MHz至1000MHz之间并且功率在500mW以下的射频设备；第1部分：技术特性及测试方法 ETSI EN 300 220-1 V2.1.1 (2006-04) ETSI EN 300 220-

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

通标标准技术服务有限公司深圳分公司检测中心

检测项：部分项目 检测样品：短距离无线电设备 标准：电磁兼容和射频频谱特性规范；短距离设备；工作频段在1GHz至40GHz范围的无线设备 第一部分：技术特性和测试方法 ETSI EN 300 440-1 V1.6.1 (2010-08)

检测项：部分项目 检测样品：短距离无线电设备 标准：电磁兼容和射频频谱特性规范；短距离设备；工作频段在1GHz至40GHz范围的无线设备 第二部分：协调标准，依据R&TTE指令的章节3.2要求 ETSI EN 300 440-2 V1.4.1 (2010-08)

检测项：部分项目 检测样品：短距离无线电设备 标准：电磁兼容和射频频谱特性规范；短距离设备；频率范围从25MHz至1000MHz，最大功率小于500mW的无线设备第一部分：技术特性和测试方法 ETSI EN 300 220-1 V2.3.1 (2010-02)

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京航天控制仪器研究所惯性技术产品检测中心

检测项：阈值 检测样品： 标准：

检测项：闭锁阈值 检测样品：光纤陀螺仪 标准：光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2004 光纤陀螺仪测试规范 Q/Kxg 175-2011

检测项：阈值 检测样品：光纤陀螺仪 标准：光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2004 光纤陀螺仪测试规范 Q/Kxg 175-2011

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

测势界（宁波）检测产品技术有限公司

检测项：发射 检测样品：短距离（SRD） 无线电设备 标准：电磁兼容性及无线频谱事物（ERM）;短距离传输设备;工作在25MHz至1000MHz之间并且功率在500mW以下的射频设备;第1部分：技术特性及测试方法;第2部分：含R&TTE指令第3.2条项下主要要求的EN协调标准

检测项：发射 检测样品：声音和电视广播接收机及相关设备 标准：声音和电视广播接收机及相关设备 无线电干扰性能 限值和测量方法

检测项：发射 检测样品：声音和电视广播接收机及相关设备 标准：CISPR 13:2009

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：栅-源阈值电压VGS(TO) 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

检测项：输出高电平阈值电压 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

检测项：输出低电平阈值电压 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

检测项：阈值 检测样品：微加速度传感器 标准：单轴摆式伺服线加速度计试验方法 GJB 1037A-2004

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：阈值电流IT 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000

检测项：栅-源阈值电压VGS（th） 检测样品：晶体振荡器 标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：栅-源阈值电压 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：同步阈值电压VT(S) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：阈值电流IT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：阈值电压 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：阈值电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：阈值电压 检测样品：场效应管IGBT 标准：半导体分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>