中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：ADC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：电源电压灵敏度 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：自动电平控制（ALC） 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

山东电力研究院

检测项：直流参考电压及0.75倍直流参考电压下的泄漏电流 检测样品：避雷器 标准：GB50150-2006 《电气装置安装工程—电气设备交接试验标准》

检测项：工频参考电压和持续电流 检测样品：输电线路 标准：GB50150-2006 《电气装置安装工程—电气设备交接试验标准》

检测项：工频参考电压试验 检测样品：高压开关设备 标准：GB11022-1999《高压开关设备和控制设备标准的共用技术条件》 GB16927.1-1997《高电压试验技术第一部分：一般试验要求》 GB 1984-2003 《高压交流断路器》

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

上海市医疗器械检测所

检测项：部分参数 检测样品：体表参考电极 标准：《体表参考电极》 YZB/USA 4310-2010

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

连云港市质量技术综合检验检测中心

检测项：参考面长度 检测样品：晶体硅 标准：《电子材料晶片参考面长度测量方法》 GB/T 13387-2009

检测项：主参考面晶向 检测样品：晶体硅 标准：《硅片参考面结晶学取向 X射线测量方法》 GB/T 13388-2009

检测项：参考面位置 检测样品：晶体硅 标准：《硅单晶抛光片》 GB/T 12964-2003

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：阈值（门限电平） 检测样品：逻辑分析仪 标准：GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》

检测项：灵敏度 检测样品：线加速度计 标准：GJB1037A-2004 《单轴摆式伺服加速度计试验方法》

检测项：灵敏度 检测样品：线加速度计 标准：GJB1037A-2004 《单轴摆式伺服加速度计试验方法》

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

检测项：动态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

检测项：功能 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十二研究所校准实验室

检测项：灵敏度 检测样品： 标准：

检测项：灵敏度 检测样品：屏蔽室（房） 标准：GB/T12190-2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 IEEE std 299-2006电磁屏蔽体屏蔽效能的测量方法

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

上海市防伪技术产品测评中心

检测项：显色灵敏度 检测样品：复印纸 标准：GB/T 16797-2008 无碳复写纸

检测项：显色灵敏度 检测样品：复印纸 标准：GB/T 16797-2008 无碳复写纸

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国测试技术研究院

检测项：灵敏度 检测样品：实验室pH计 标准：实验室pH计 GB 11165-2005

检测项：灵敏度级 检测样品：标准水听器（0.1～5.0）MkHz 标准：GB/T 15611－1995 声学 高频水听器校准

检测项：灵敏度级 检测样品：标准水听器（2～100）kHz 标准：GB/T 4128－1995 标准水听器

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>