中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京全路通信信号研究设计院监测检测实验室

检测项：额定输入电平 检测样品：铁路列车无线通信系统中继器 标准：铁路无线列调通信系统入网技术检验规程（试行） 条款：五（四）

检测项：静噪门限电平 检测样品：铁路列车无线通信系统中继器 标准：TB/T3052-2002 列车无线调度通信系统制式及主要技术条件 运基通信【2000】208号文

检测项：额定输出电平 检测样品：铁路列车无线通信系统中继器 标准：铁路无线列调通信系统入网技术检验规程（试行） 条款：五（四）

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入高电平电压 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022

检测项：输入高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1

检测项：输入低电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：输入输出电平差 检测样品：数字电影放映系统 标准：《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012

检测项：线路输入最高电平 检测样品：调音台 标准：《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989

检测项：最大电平增益 检测样品：数字投影机 标准：《数字投影机通用规范》SJ/T 11298－2003

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输入高电平电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平 电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>