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波美度(DegreeBaum′e) 采用玻璃管式浮计中的一种特殊分度方式的波美计所给出的值称为波美度,符号为°B′e。用于间接地给出液体的密度。 波美度 测试仪器:波美度测试仪 查看详情>>
波美度(DegreeBaum′e)
采用玻璃管式浮计中的一种特殊分度方式的波美计所给出的值称为波美度,符号为°B′e。用于间接地给出液体的密度。
波美度测试仪器:波美度测试仪
收起百科↑ 最近更新:2017年04月12日
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件JB/T 7411-2012
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测 A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试方法JB/T 9214-2010 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件JB/T 10061-1999
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:参考电平 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影流动放映系统技术要求和测量方法》GY/T 251-2011
检测项:发行母版声道参考电平 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
检测项:发行版声音参考电平 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:热效率 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
检测项:能源利用率 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
检测项:用电量 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:蓝牙最大输入电平RCV/CA/06/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
检测项:蓝牙EDR最大输入电平RCV/CA/10/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙低功耗射频测试规范 RF-PHY.TS/4.0.1
检测项:RCV-LE/CA/06/C (最大输入信号电平) 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙低功耗射频测试规范 RF-PHY.TS/4.0.1
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:自动电平控制 检测样品:GSM直放站 标准:《 900/1800 MHzTDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1337-2005
检测项:自动电平控制 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241—2002
检测项:单频抗扰度 检测样品:工作在2.4GHz并使用扩频调制技术的数据传输设备 标准:《电磁兼容和无线频谱内容;宽带传输系统;工作在2.4GHz并使用扩频调制技术的数据传输设备——部分1 技术特性和测试条件》ETSI EN 300 328 V1.7.1 2006-10 《关于调整2.4GHz频段发射功率限值及有关问题的通知》 信息产业部(信
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出逻辑电压电平 检测样品:电磁继电器 标准:GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:低电平负载切换寿命试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项:低电平 检测样品:塑封电磁继电器 标准:《塑封通用电磁继电器总规范》 GJB2449-1995
检测项:低电平 检测样品:混合和固体延时继电器 标准:《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>