上海精密计量测试研究所

检测项：输出峰-峰值电压VOPP 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输出电压VO 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输出纹波电压Vrip 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

德凯质量认证（上海）有限公司

检测项：峰值光强 检测样品：自整流LED灯泡 标准：电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013

检测项：峰值光强 检测样品：自整流LED灯泡 标准：电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013

检测项：角度尺寸 检测样品：自整流LED灯泡 标准：电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

广东省电子电器产品监督检验所

检测项：正向峰值电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：反向峰值电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：击穿电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出峰-峰值电压 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输出峰-峰值电压 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

上海半导体照明工程技术研究中心检测实验室

检测项：峰值波长(峰值发射波长) 检测样品：普通照明用LED模块 标准：GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测试方法

检测项：半峰光束角 检测样品：普通照明用LED模块 标准：GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测试方法

检测项：正弦振动 检测样品：电工电子产品 标准：GB/T 2423.10-2008 IEC 60068-2-6: 1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

深圳电气科学研究所（深圳电气科学研究所中心实验室/深圳电气产品质量检测中心）

检测项：全部项目 检测样品：电力用 高频开关 整流模块 标准：DL/T 781-2001 电力用高频开关整流模块

检测项：全部项目 检测样品：电力用 高频开关 整流模块 标准：电力用高频开关整流模块 DL/T 781-2001

检测项：全部项目 检测样品：牵引用硅整流变压器 标准：JB/T 2931-1999 牵引用硅整流变压器

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国电信集团广东省电信公司艾特实验室

检测项：杂音电压 检测样品：通信用高频开关电源系统 标准：通信用高频开关电源系统 YD/T 1058-2007

检测项：输出杂音电压 检测样品：通信电源分配列柜 标准：传输设备用电源分配列柜 YD/T 939-2005

检测项：整流模块 检测样品：通信用逆变设备 标准：通信用逆变设备 YD/T 777-2006

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

检测项：正向电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出峰-峰值 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管

检测项：集电极-基极击穿电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：反向重复/不重复峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：断态重复/不重复峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>