东北电力科学研究院有限公司

检测项：时钟精度 检测样品：自动控制装置 标准：继电保护和安全自动装置技术规程GB 14285-2006 静态继电保护及安全自动装置通用技术条件DL/T 478-2010 200kV～500 kV电力系统故障动态记录装置检测要求DL/T 663-1999

检测项：时钟精度 检测样品：自动控制装置 标准：1、继电保护和安全自动装置技术规程 GB/T 14285-2006 2、静态继电保护及安全自动装置通用技术条件 DL/T 478-2010 3、200kV～500 kV电力系统故障动态记录装置检测要求 DL/T 663-1999

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

广东省通讯终端产品质量监督检验中心

检测项：**符号时钟频率容限 检测样品：无线局域网(WLAN)设备 标准：《信息技术 系统间远程通信和信息交换局域网和城域网 特定要求 第11部分：无线局域网媒体访问控制和物理层规范》GB/T 15629.11-2003 《信息技术 系统间远程通信和信息交换 局域网和城域网 特定要求 第11部分:无线局域网媒体访问控制和物理层规

检测项：**符号时钟频率容限 检测样品：无线局域网(WLAN)设备 标准：《信息技术 系统间远程通信和信息交换 局域网和城域网 特定要求 第11部分:无线局域网媒体访问控制和物理层规范:附加管理域操作规范:2.4GHz频段更高数据速率扩展规范》GB 15629.1104-2006 《信息技术IEEE标准-系统间电信和信息交换-局

检测项：**码片时钟频率容限 检测样品：无线局域网(WLAN)设备 标准：《信息技术系统间远程通信和信息交换局域网和城域网特定要求 第11部分：无线局域网媒体访问控制和物理层规范：2.4GHz频段较高速物理层扩展规范》GB/T 15629.1102-2003 《信息技术-系统间的通信和信息交换-局域网和城域网-特别需求-第11部

机构所在地：广东省河源市 更多相关信息>>

上海无委无线电检测实验室有限公司

检测项：码片时钟频率容限 检测样品：无线接入设备 标准：《技术 系统间远程通信和信息交换 局域网和城域网 特定要求 第11部分：无线局域网媒体访问控制和物理层规范：2.4GHz频段更高数据速率扩展规范》 GB 15629.1104-2006 《电磁兼容性和射频频谱事项(ERM);宽带传输系统;使用宽带调制技术

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

山东省无线电监测站

检测项：时钟频率容限 检测样品：5.8GHz频段无线电发射设备 标准：ETSI EN 301 893 V1.7.0 (2012-01)《宽带无线接入网络；5GHz高性能无线局域网；涉及R&TTE导则第3.2章的必要要求》 ITU-R《国际电联无线电规则》 IEEE 802.11-2002《信息技术，电信和信息系统之间的交

检测项：时钟频率容限 检测样品：2.4GHz频段无线电发射设备 标准：ETSI EN 300 328 V1.7.1(2006-10) 《电磁兼容和无线频谱内容；宽带传输系统；工作在2.4GHz并使用扩频调制技术的数据传输设备；涉及R&TTE导则第3.2章的必要要求》 ITU-R《国际电联无线电规则》 IEEE 802

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

测势界（宁波）检测产品技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：钟表 标准：家用和类似用途电器-安全——时钟的特殊要求 GB 4706.70-2008

检测项：部分项目 检测样品：钟表 标准：家用和类似用途电器-安全——时钟的特殊要求 IEC 60335-2-26:2008

检测项：部分项目 检测样品：钟表 标准：家用和类似用途电器-安全——时钟的特殊要求 EN 60335-2-26:2003+A1:2008

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

河南省无线电监测站

检测项：时钟频率容限 检测样品：2.4GHz频段无线电发射设备 标准：信部无[2002]353号 《关于调整2.4GHz频段发射功率限值及有关问题的通知》 ETSI EN 300 328 V1.7.1 (2006-10)《电磁兼容和无线频谱内容；宽带传输系统；工作在2.4GHz并使用扩频调制技术的数据传输设备；涉及R&T

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：最大时钟频率 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：时钟脉冲宽度 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>