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T形含铜宫内节育器产品描述:通常由铜以及支架材料组成,支架材料一般由硅橡胶、尼龙、聚乙烯、聚丙烯、不锈钢或记忆合金材料制成。外形有圆形、T形、V形、γ形及链条状等。无菌提供。 T形含铜宫内节育器预期用途:用于放置于妇女子宫腔内起避孕作用。 T形含铜宫内节育器品名举例:T形含铜宫内节育器、O形含铜宫内节育器、V形含铜宫内节育器、宫腔形含铜宫内节育器、固定式含铜宫内节育器...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年06月27日
检测项:光通维持率 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流荧光灯 性能要求 GB/T 17263-2002
检测项:灯功率 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流灯的安全要求 GB 16844-2008
检测项:光通维持率 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流灯的安全要求 GB 16844-2008
机构所在地:广东省佛山市 更多相关信息>>
检测项:全部项目/全部参数 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流荧光灯能效限定值及能效等级 (GB 19044-2003)
检测项:全部项目 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流荧光灯能效限定值及能效等级 GB 19044-2003
检测项:全部项目/全部参数 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流荧光灯 性能要求 (GB/T 17263 – 2002)
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:全部参数 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流荧光灯 性能要求 GB/T 17263-2002
检测项:全部参数 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯 标准:普通照明用自镇流荧灯 性能要求 GB/T 17263-2002
检测项:全部参数 检测样品:普通照明用自镇流灯 标准:普通照明用自镇流灯 安全要求 GB 16844-2008
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:全部项目 检测样品:普通照明用自镇流灯 标准:普通照明用自镇流灯的安全要求 GB16844-2008/IEC60968:1999
检测项:砷、铅、铜 检测样品:冷饮食品 标准:冷饮食品卫生标准的分析方法 GB/T 5009.50-2003
机构所在地:广东省中山市 更多相关信息>>
检测项:全部项目 检测样品:能效要求/整体LED(发光二极管)灯 (全方向的/定向的LED灯、装饰的LED灯) 标准:普通照明用自镇流荧光灯能效限定值及能效等级 GB 19044-2003
检测项:全部项目 检测样品:能效要求/整体LED(发光二极管)灯 (全方向的/定向的LED灯、装饰的LED灯) 标准:普通照明用自镇流荧光灯 性能要求 GB/T 17263-2002 EN 60969:1993 +A1:1993+A2:2000 IEC 60969:1998 +A1:1991+A2:2000
检测项:部分项目 检测样品:普通照明用自镇流荧光灯. 标准:普通照明用自镇流荧光灯的安全要求 GB 16844-2008 EN 60968:1990 +A1:1993+A2:1999
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:防刺性能 检测样品:防弹头盔及面罩 标准:防弹材料及产品V50试验方法 GA 950-2011
检测项:防弹性能 检测样品:防弹玻璃 标准:防护装备V50测试方法 MIL-STD-662F
检测项:甲醛 检测样品:木质材料 标准:工业己内酰胺试验方法 第1部分 50%水溶液色度的测定 分光光度法 GB/T 13255.1-2009
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:水,50%乙醇(V/V),正庚烷萃取液的蒸发残渣 检测样品:聚碳酸酯 标准:聚碳酸酯 CFR 21 177.1580章节c(2)
检测项:物理和机械性能 检测样品:玩具及儿童用品 标准:滥用测试 CPSC 16 CFR 1500.50-53
检测项:全部参数 检测样品:泡椒凤爪(翅) 标准:泡椒凤爪(翅) DB50/294-2008
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:电流互感器 标准:电流互感器 GB 1208-2006
检测项:部分项目 检测样品:低压成套开关设备和控制设备 标准:低压成套开关设备和控制设备 第一部分:型式试验和部分型式试验成套设备 GB7251.1-2005
检测项:部分项目 检测样品:开关、隔离器、隔离开关及熔断器组合电器 标准:低压开关设备和控制设备 第3部分:开关、隔离器、隔离开关及熔断器组合电器 GB14048.3-2008
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:高温反偏 检测样品:分立器件 筛选 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:半导体器件集成电路;第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:正向压降 检测样品:半导体 二极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>