最大增益及误差检测实验

骨填充及修复材料

简介

骨填充及修复材料相关指导原则： 1、增材制造聚醚醚酮植入物注册技术审查指导原则骨填充及修复材料相关标准： 1、YY/T 1794-2021 口腔胶原膜通用技术要求 2、YY/T 0524-2009 牙科学牙种植体系统技术文件内容查看详情>>

骨填充及修复材料

简介

骨填充及修复材料相关指导原则：
1、增材制造聚醚醚酮植入物注册技术审查指导原则

骨填充及修复材料相关标准：
1、YY/T 1794-2021 口腔胶原膜通用技术要求
2、YY/T 0524-2009 牙科学牙种植体系统技术文件内容

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中国电子科技集团公司第十四研究所计量测试中心

检测项：最大增益检测样品：移动通信直放站标准：900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信直放站技术要求和测试方法 YD/T1337-2005

检测项：带外增益检测样品：干燥箱标准：干燥箱技术条件JB/T5520-1991

检测项：增益调节范围检测样品：移动通信直放站标准：900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信直放站技术要求和测试方法 YD/T1337-2005

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

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国家广播电影电视总局广播科学研究院广播电视检测中心

检测项：最大增益检测样品：移动多媒体广播UHF频段直放站放大器标准：GD/J 021-2008《移动多媒体广播UHF频段直放站放大器技术要求和测量方法》

检测项：色度/亮度增益差检测样品：高清编码器标准：GY/T226-2007《数字电视复用器技术要求和测量方法》GY/T212-2005《标准清晰度数字电视编码器、解码器技术要求和测量方法》GY/T155-2000《高清晰度电视节目制作及交换用视频参数值》GY/T157-2000《演播室高清晰度电视数字视频

检测项：微分增益检测样品：高清解码器标准：GY/T212-2005《标准清晰度数字电视编码器、解码器技术要求和测量方法》 GY/T155-2000《高清晰度电视节目制作及交换用视频参数值》 GY/T157-2000《演播室高清晰度电视数字视频信号接口》 GY/T158-2000《演播室数字音频信号

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湖北省计量测试技术研究院

检测项：小信号增益、波道增益、最大多波道增益变化、多波道增益变化差、偏振相关增益和波道增加/移去增益响应（静态）（分立式RFA）检测样品：喇曼光纤放大器标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

检测项：最大小信号增益检测样品：光纤放大器（EDFA）标准：光纤放大器试验方法基本规范第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999

检测项：最大小信号增益波长检测样品：光纤放大器（EDFA）标准：光纤放大器试验方法基本规范第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999

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思科系统（中国）研发有限公司声学实验室

检测项：增益（默认音量到最大音量）检测样品：数字电话标准：手持式电话助听器耦合和接收音量控制磁输出的要求及测试方法 CS-03 Part V：2009

检测项：增益（默认音量到最大音量）检测样品：数字电话标准：终端设备到电话网络的连接 FCC Part68-2008

检测项：最大声压检测样品：数字电话标准：用户设备的音频性能要求 AS/ACIF S004-2008

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中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：偏转系数及误差检测样品：模拟示波器标准：GB/T 6585-1996 阴极射线示波器通用规范

检测项：偏转因数及误差检测样品：数字示波器标准：GB/T 15289-94 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

检测项：偏转系数及误差检测样品：模拟示波器标准：GB/T 6585-1996 《阴极射线示波器通用规范》

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：增益误差EG 检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：开环电压增益（误差放大器）AVD 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

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北京振兴计量测试研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：A/D、D/A转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：增益误差EG 检测样品：低频电连接器标准：低频电连接器复验技术条件 Q/QJB 156-2008

检测项：开环增益AVO 检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996

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上海精密计量测试研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：增益误差EG 检测样品：D/A转换器标准：SJ2480-1984 混合集成电路数字-模拟、模拟-数字转换器静态测试方法的基本原理

检测项：增益误差EG 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：D/A增益误差检测样品：CMOS集成电路标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：A/D增益误差检测样品：CMOS集成电路标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：D/A增益误差检测样品：RF器件标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：增益误差EG 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：线性误差EL 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

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