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检测项:低电平负载切换寿命试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项:低电平 检测样品:塑封电磁继电器 标准:《塑封通用电磁继电器总规范》 GJB2449-1995
检测项:低电平 检测样品:混合和固体延时继电器 标准:《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:电晕电平 检测样品:射频同轴连接器转接器 标准:GJB681A-2002 《射频同轴连接器通用规范》4.5.20条
检测项:电晕电平 检测样品:射频电缆组件 标准:GJB680A-2009 《射频同轴连接器总规范》4.5.21条GJB360B-2009 《 电子及电气元器件试验方法》
检测项:盐雾 检测样品:射频同轴连接器 标准:GJB681A-2002《射频同轴连接器通用规范》4.5.11 GJB360B-2009 《电子及电子元器件试验方法》方法101
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:激励电平相关性(DLD) 检测样品:谐振器 标准:石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分-总规范 GB/T 12273-1996
检测项:激励电平相关性(DLD) 检测样品:谐振器 标准:石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分-总规范GB/T 12273-1996 元器件引线、端子、焊片、接线柱和导线的可焊性测试 IPC/ECA J-STD-002C
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:校准信号电平 检测样品:数字示波器 标准:GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
检测项:校准信号电平 检测样品:防静电服 标准:Q/W 1302-2010 防静电系统测试要求
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>