湖北省计量测试技术研究院

检测项：最大输入功率能力 检测样品：纤维光学隔离器 标准：纤维光学隔离器 第１部分：总规范 GB/T 13265.1-1997

检测项：输入光反射、输出光反射、输入端最大光反射容限和输出端最大光反射容限（分立式RFA） 检测样品：喇曼光纤放大器 标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

检测项：视频输出电平 检测样品：VCD视盘机 标准：VCD视盘机通用规范 SJ/T 10730-1997

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

浙江雅迪机车有限公司检测中心

检测项：控制器最大输入电流 检测样品：电动摩托 车及电动轻便摩托车电机及控制器 标准：电动摩托车和电动轻便摩托车用电机及控制器技术条件 QC/T792-2007

机构所在地：浙江省慈溪市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：低到高电平输出的传输延迟时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：输出高电平电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出低电平电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：最大电平增益 检测样品：数字投影机 标准：《数字投影机通用规范》SJ/T 11298－2003

检测项：输入输出电平差 检测样品：数字电影放映系统 标准：《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012

检测项：线路输出最高电平 检测样品：调音台 标准：《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

福建省电子产品监督检验所（福建省软件评测中心）

检测项：线性输出电平 检测样品：单面纸质 印制 标准：单面纸质印制的安全要求 SJ 3275-90

检测项：最大声压级 检测样品： 标准：

检测项：线性输入电平 检测样品：收录音机 标准：磁带录音机基本参数 和技术条件 GB/T 2019-87 录音广播接收机基本参数 GB/T 9374-88

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：输出电平 检测样品：车载稳压电源 标准：GJB 3836-1999 车载稳压电源通用规范

检测项：输出电平平坦度 检测样品：车载稳压电源 标准：GJB 3836-1999 车载稳压电源通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：数字式搜索 接收机 标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>