国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：最小受控功率 检测样品：cdma2000数字蜂窝移动台 标准：《cdma2000移动台最小性能标准》 3GPP2 C.S0011-C Release C, Version 2.0(TIA-98-F-1)

检测项：最小受控功率 检测样品：cdma2000数字蜂窝移动台 标准：《cdma2000移动台最小性能标准》 3GPP2 C.S0011-C Release C, Version 2.0(TIA-98-F-1)

检测项：最小受控功率 检测样品：CDMA数字蜂窝移动台 标准：《cdma2000移动台最小性能标准》 3GPP2 C.S0011-C Release C, Version 2.0(TIA-98-F-1)

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海市医疗器械检测所

检测项：全部参数 检测样品：麻醉呼吸设备湿化人体呼吸气体热湿交换（HME） 第1部分：最小潮气量250mLHME 标准：《麻醉呼吸设备湿化人体呼吸气体热湿交换（HME） 第1部分：最小潮气量250mLHME》 YY/T 0735.1-2009

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司手机检测中心

检测项：参考性能的最小输入电平 检测样品：移动通讯终端 标准：《建议对于CDMA2000高速率分组业务终端的最小性能标准》 3GPP2 C.S0033-C Version: 1.0 （2011-1）

检测项：最小受控输出功率 检测样品：移动通讯终端 标准：《建议对于CDMA2000高速率分组业务终端的最小性能标准》 3GPP2 C.S0033-C Version: 1.0 （2011-1）

检测项：手持终端侧音特性 检测样品：移动通讯终端 标准：《CDMA2000移动台建议最小电声性能规范》3GPP2 C.S0056 V1.0 （2005-07）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

上海达用标测试技术服务有限公司检测中心

检测项：相关色温（CCT）和Duv，显色指数（CRI），颜色维护，功率因数，最小的光效，最小光输出，颜色空间均匀性（定向灯） 检测样品：整体式发光二极管（LED）灯泡 标准：固态照明产品的电气和光度测量 IES LM-79-08 第9章，第12章

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

深圳市冠准科技有限公司

检测项：确定最小电气间隙的替换方法 检测样品：灯具总要求和试验 标准：《灯具总要求与试验》 GB 7000.1-2007 IEC 60598-1:2008 EN 60598-1:2008+A11

检测项：适合连接的铜导体的最小和最大截面积 检测样品：灯具总要求和试验 标准：《灯具总要求与试验》 GB 7000.1-2007 IEC 60598-1:2008 EN 60598-1:2008+A11

检测项：力矩及轴向拉力测试 检测样品：医用电源 标准：《医用电气设备 第1部分：安全通用要求》 GB 9706.1-2007 IEC 60601-1:2005 EN 60601-1:2006

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

山西省晋中市质量技术监督检验测试所

检测项：部分参数 检测样品：聚氯乙烯绝缘电缆 标准：额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆 第1部分：一般要求 GB/T5023.1-2008/IEC60227-1:2007

检测项：部分参数 检测样品：橡皮绝缘软线和软电缆 标准：额定电压450/750V及以下橡皮绝缘电缆第4部分：软线和软电缆 GB/T5013.4-2008/IEC60245-4:2004

检测项：部分参数 检测样品：电焊机电缆 标准：额定电压450/750V及以下 橡皮绝缘电缆 第6部分电焊机电缆 GB/T5013.6-2008/IEC60245-6:1994

机构所在地：山西省晋中市 更多相关信息>>

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市精科眼镜检测检验服务有限公司

检测项：可预见的合理滥用测试 -拉力测试 检测样品：儿童眼镜 标准：国家玩具安全技术规范 GB6675-2003+A1:2005 A.5.24.6条款

检测项：可预见的合理滥用测试 -拉力测试 检测样品：儿童眼镜 标准：玩具安全—第一部分 :机械和物理性能 ISO 8124-1:2012 5.24.6条款

检测项：可预见的合理滥用测试 -拉力测试 检测样品：儿童眼镜 标准：玩具安全—第一部分 :机械和物理性能 AS/NZS ISO8124-1:2013 5.24.6条款

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

鹤山利奥计量检测服务有限公司

检测项：机械及物理性能 检测样品：玩具 标准：5.24.2跌落测试, 5.24.5扭力测试, 5.24.6拉力测试, 5.24.7压力测试, 5.24.8挠曲测试 5.31磁铁的拉力测试, 5.32磁铁的磁通量指数

检测项：机械及物理性能 检测样品：玩具 标准：A.5.14仿制防护玩具的冲击测试, A5.24.2跌落测试, A5.24.5扭力测试, A5.24.6拉力测试, A5.24.7压力测试, A.5.24.8挠曲测试

检测项：机械及物理性能 检测样品：玩具 标准：5.4玩具上的绳线, 5.8特定形状和尺寸的玩具, 5.9含单丝纤维的玩具, 5.10三岁以下儿童使用的小球, 5.11玩偶, 5.13吸盘, 5.14预定全部或部分围在脖子上的带, 8.2小部件测试, 8.3扭力测试, 8.4拉力测试, 8.5跌落测试,

机构所在地：广东省鹤山市 更多相关信息>>

浙江七丰五金标准件有限公司技术中心实验室

检测项：机械性能 检测样品：螺栓 螺钉 螺柱 标准：紧固件机械性能 螺栓、螺钉和螺柱 GB/T 3098.1－2010

检测项：机械性能 检测样品：螺栓 螺钉 螺柱 标准：紧固件机械性能 螺栓、 螺钉和螺柱 ISO898-1-2009

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>