浙江省医疗器械检验院

检测项：全部项目 检测样品：眼镜架 标准：眼科光学－毛边眼镜镜片 第4部分: 增透膜要求和测试方法ISO8980-4:2000 眼科光学－毛边眼镜镜片 第5部分:防磨损框架镜片表面最小要求

检测项：全部项目 检测样品：眼镜镜片 标准：眼科光学－毛边眼镜镜片 第4部分: 增透膜要求和测试方法ISO8980-4:2000 眼科光学－毛边眼镜镜片 第5部分:防磨损框架镜片表面最小要求

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

北京市医疗器械检验所

检测项：最小静压差 检测样品：药品包装材料生产厂房洁净室（区） 标准：直接接触药品的包装材料和容器管理办法（洁净间检测相关条款）药品包装材料生产厂房洁净室（区）测试标准 　YBB 00412004

检测项：全部项目 检测样品：一次性使用产包 标准：外科植入物 金属髓内钉系统 第3部分：连接器械及髓腔扩大器直径的测量 　　　　　　 YY/T 0727.3-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

轻工业塑料加工应用研究所国塑（北京）材料检测中心

检测项：部分参数 检测样品：垃圾填埋场用高密度聚乙烯土工膜 标准：垃圾填埋场用高密度聚乙烯土工膜 CJ/T 234-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：*部分项目 检测样品：α、β和γ表面污染仪 标准：α、β和α-β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪 GB/T 5202-2008

检测项：部分项目 检测样品：*α、β和γ表面污染仪 标准：α、β和α-β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪 GB/T 5202-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

沈阳产品质量监督检验院（沈阳产品质量监督检验研究院、沈阳安全生产监督检验研究院）

检测项：最小转矩** 检测样品：三相异步电动机 标准：三相异步电机试验方法GB/T1032-2012

检测项：部分参数** 检测样品：大型三相立式异步电动机 标准：大型三相立式异步电动机技术条件 JB/T 8668-2011

检测项：部分参数* 检测样品：Y系列10kV三相异步电动机 标准：Y系列10kV三相异步电动机技术条件（机座号450-630） JB/T10446-2004

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

中国包装科研测试中心

检测项：全部项目 检测样品：包装容器 钢提桶 标准：《包装容器 钢桶 第2部分：最小总容量208L、210L和216.5L全开口钢桶》 GB/T 325.2-2010

检测项：全部项目 检测样品：包装容器 钢提桶 标准：《包装容器 钢桶 第3部分 最小总容量212L、216.5L和230L闭口钢桶》 GB/T 325.3-2010

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

中国兵器装备集团摩托车检测技术研究所

检测项：照明和光信号装置的安装要求* 检测样品：摩托车和轻便摩托车 标准：GB 7258-2012机动车运行安全技术条件

检测项：照明和光信号装置的安装要求* 检测样品：摩托车和轻便摩托车 标准：GB 7258-2004机动车运行安全技术条件

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国建筑科学研究院建筑工程检测中心

检测项：最小运行制冷 检测样品：水源热泵机组 标准：水源热泵机组GB/T19409-2003 冷水机组能效限定值及能源效率等级GB 19577-2004 容积式和离心式冷水（热泵）机组性能试验方法GB/T 10870-2001

检测项：热泵最小运行制热 检测样品：水源热泵机组 标准：水源热泵机组GB/T19409-2003 冷水机组能效限定值及能源效率等级GB 19577-2004 容积式和离心式冷水（热泵）机组性能试验方法GB/T 10870-2001

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：最小占空比（比较器部分）qmin 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：最小输入输出压差|VI-VO|min 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：最小输入输出压差|VI-VO|min 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：（电子元 器件）恒定加速度 检测样品：电子元器件及设备 机械性能试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>