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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:漏源极截止电流IDSS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:静态漏-源通态电阻RDS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:漏源击穿电压 V(BR)DSS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:密封型电池-漏液试验 检测样品:磁性物质 标准:联合国《关于危险货物运输的建议书 规章范本》(第16版)ST/SG/ AC.10/1/Rev.16,3.3章的特殊规定238(b)
检测项:固体自燃试验 检测样品:自燃物质 标准:危险品 易燃固体燃烧速率试验方法
机构所在地:北京市
检测项:通态漏极电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 方法3407
检测项:漏-源通态电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 方法3407
检测项:漏-源击穿电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 方法3407
机构所在地:湖北省宜昌市