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检测项:自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)(AM) 检测样品:声音广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数GB/T 9374-88
检测项:自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)(AM) 检测样品:声音广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数GB/T 9374-2012
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:输出低电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:线性输出电平 检测样品:单面纸质 印制 标准:单面纸质印制的安全要求 SJ 3275-90
检测项:线性输入电平 检测样品:收录音机 标准:磁带录音机基本参数 和技术条件 GB/T 2019-87 录音广播接收机基本参数 GB/T 9374-88
检测项:激励电平相关性 检测样品:石英晶体谐振器 标准:石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 GB/T 12273-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分:分规范 GB/T 16517-1996
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出电平 检测样品:车载稳压电源 标准:GJB 3836-1999 车载稳压电源通用规范
检测项:输出电平平坦度 检测样品:车载稳压电源 标准:GJB 3836-1999 车载稳压电源通用规范
检测项:反向辐射电平 检测样品:数字式搜索 接收机 标准:GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范
机构所在地:浙江省嘉兴市 更多相关信息>>
检测项:最高输出电平 检测样品:*广播扩声系统检测 标准:智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003
检测项:*输出电平 检测样品:广播扩声系统检测 标准:民用闭路监视电视系统工程技术规范 GB 50198-1994 电视视频通道测试方法 GB/T 3659-1983
检测项:*最高输出电平 检测样品:接触式IC卡 标准:识别卡 带触点的集成电路卡第3部分: 电信号和传输协议 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电流IOL 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输入阈值电平电压VT(I) 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:视频输出电平 检测样品:VCD视盘机 标准:VCD视盘机通用规范 SJ/T 10730-1997
检测项:标称输出信号功率 检测样品:光纤放大器(EDFA) 标准:光纤放大器试验方法基本规范 第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999
检测项:视频通道输出电平 检测样品:家庭影院用环绕声放大器 标准:家庭影院用环绕声放大器通用规范 SJ/T 11217-2000
检测项:逻辑输出电压电平 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路采样/保持放大器 标准:GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理